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![灵活的光子计数、像素化X射线直接探测器—MiniPIX TPX Flex]()
灵活的光子计数、像素化X射线直接探测器—MiniPIX TPX Flex
点击蓝字关注我们MiniPIX TPX FlexMiniPIX TPX Flex是一款由北京众星联恒科技有限公司和捷克Advacam公司联合推出的掌上型光子计数、像素化、X射线直接探测器，内含由欧洲核子研究组织（CERN）研发的Timepix读出芯片（256 x 256 ，像素大小55μm x 55 μm）和500μm硅传感器及相应读出电路。它可以用于探测X射线、质子、电子的数量、到达时间和能量。
2025-05-13 unistar
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![众星联恒-前沿视界 - EUV&X射线行业洞察]()
众星联恒-前沿视界 - EUV&X射线行业洞察
点击蓝字 关注我们ENTERPRISE世界或许会分化，但科学的光永不熄灭尽管全球科技格局面临诸多不确定性，未来的世界也许是割裂的，但是尖端技术的火种始终在文明长河中始终会奔涌不息。极紫外（EUV）与X射线技术作为突破物理极限的关键领域，正在推动基础科学、半导体、精密检测等行业的深刻变革。作为深耕极紫外（EUV）及X射线核心部件领域的技术服务商和解决方案的探索者，众星联恒始终以"技术瞭望者"的视角，
2025-05-13 unistar
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![hiXAS助力复旦大学赵东元院士团队发表新Angew/从ex-situ到in-situ研究——推动实验室XAS表征上升新台阶]()
hiXAS助力复旦大学赵东元院士团队发表新Angew/从ex-situ到in-situ研究——推动实验室XAS表征上升新台阶
点击蓝字，关注我们X射线吸收光谱（XAS）技术及仪器的发展材料原子选择性地吸收特定能量的X射线，引起原子芯能级轨道电子的跃迁，通过探测X射线被材料吸收前后的强度变化，可以获得材料原子的X射线吸收光谱。X射线吸收近边结构（XANES）的特征吸收能量和强度与原子的轨道电子结构密切相关，遵从朗伯-比尔定律，可用于定量分析材料原子的价态、轨道电子自旋态等；而扩展X射线吸收精细结构（EXAFS）直接反映了吸
2025-06-11 unistar
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![一款清洁的小型化实验室桌面软X射线光源—ProLINE]()
一款清洁的小型化实验室桌面软X射线光源—ProLINE
光学技术是人类从微观尺度认识物质基本结构和演化规律的观测之“眼”，也是实现微纳结构精密加工的制造之“手”。作为光学的重要组成部分，极紫外（EUV）和软X射线（SXR）光学在众多应用领域均表现出了独特的优势。如下图1，在EUV和SXR光谱区域分布着大量元素的原子共振能级，利用EUV或SXR光激发原子内壳层的轨道电子，可以实现元素价态和轨道电子结构的探测[1]。EUV和SXR光波长短，光子能量高，在纳
2025-02-18 unistar
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![Channel Cut 晶体单色器：开启 X 射线高分辨之窗]()
Channel Cut 晶体单色器：开启 X 射线高分辨之窗
01BACKGROUND高分辨X射线衍射分析的方法背景粉末晶体和不完美晶体通常包含许多晶格缺陷，例如位错，它们的三维周期性往往是无序的。镶嵌晶体模型将这种无序性描述为大量微小区域的集合，这些区域在周期性上没有无序，但在取向上有轻微差异。在镶嵌晶体中，X射线可以相互干涉的区域很小，入射的X射线束在大多数情况下可能只在晶体中散射一次。衍射的运动学理论适用于这些情况，涉及许多无机和有机晶体，甚至非晶材料
2025-04-08 unistar
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![王戈教授被任命为《IEEE医学成像学报》主编]()
王戈教授被任命为《IEEE医学成像学报》主编
点击蓝字，关注我们2025年1月10日，伦斯勒理工学院（RPI）Clark-Crossan讲座教授及生物医学成像中心主任王戈教授 被正式任命为 《IEEE医学成像学报》（IEEE Transactions on Medical Imaging）的主编。该期刊是医学成像领域的旗舰期刊，每年收到近3,000篇投稿，并且在所有生物医学工程期刊中被引用次数最多之一。王教授的任期为三年，并有可能续任第二个任
2025-01-20 unistar
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![文献速递：边缘照明X射线相衬微米CT中体各向异性的自监督分辨率增强]()
文献速递：边缘照明X射线相衬微米CT中体各向异性的自监督分辨率增强
2025新年伊始，来自荷兰莱顿大学高等计算机科学研究所的Jiayang Shi以第一作者的身份在“ Tomography of Materials and Structures” 发表了一篇名为：“ Self-supervised resolution enhancement for anisotropic volumes in edge illumination X-ray phase cont
2025-01-14 unistar
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![EUV多层膜元件的反射率表征：从微观到宏观的极致优化]()
EUV多层膜元件的反射率表征：从微观到宏观的极致优化
点击蓝字 关注我们WINTER多层膜反射率表征背景介绍EUV多层膜元件是EUV光学系统的核心光学元件，通过周期性膜层结构设计可以在特定波长和入射角度条件下获得尽可能高的反射率。如图1是一片由德国optiX fab.制造的周期性Mo/Si多层膜反射镜在5°入射角条件下的反射率测试结果，对中心13.5nm波长的实测反射率可以达到65%以上，非常接近于理论光学极限。图1. Mo/Si多层膜反射镜在PTB
2025-04-07 unistar
