企业新闻

  • 众星联恒×艾格斯瑞:首启国产联盟,共迎X射线新机遇

    点击蓝字,关注我们我们非常高兴地宣布,北京众星联恒科技有限公司与艾格斯瑞(成都)仪器设备有限公司已于日前正式达成深度战略合作协议!众星联恒将成为艾格斯瑞的全球唯一代理,全面负责艾格斯瑞所有产品的市场推广与销售工作。本次合作是众星首次与国产X射线仪器厂家合作,我们将借助在X射线行业的深厚经验和市场推广、销售渠道上的积累,助力艾格斯瑞的先进产品走进更多用户的实际应用场景中。 走出去,引进来 未来,众星

    2025-01-20 unistar

  • 众星聚焦-最新EUV&X射线行业就业、深造机会

    点击蓝字 关注我们尽管全球科技格局面临诸多不确定性,未来的世界也许是割裂的,但是尖端技术的火种、及人类对于未知奇妙世界秩序的探索始终会在文明长河中奔涌不息。 X 射线及极紫外(EUV)技术作为突破物理极限的关键领域,正在推动基础科学、半导体、精密检测等行业的深刻变革。作为深耕 X 射线及极紫外(EUV)核心部件领域的技术服务商和解决方案的探索者,众星联恒始终以"技术瞭望者"的视角,捕捉全球最新的

    2025-09-01 unistar

  • 精准解析电池材料与器件性能的先进表征工具- SpotLight-P多毛细管微焦点X射线光源

    引 言微焦点X射线光源因其高分辨率和精准的微区分析能力,在材料科学、半导体检测等领域有广泛应用。然而,传统用于成像的微焦点X射线源无法满足原位衍射场景对工作距离、输出焦点尺寸和发散角的严苛要求,而基于多层膜镜的高性能光源又因价格昂贵难以普及。由高端X射线核心部件原始制造商-艾格斯瑞推出的SpotLight-P微焦点X射线光源(如下图1),基于毛细管X光透镜技术路径,在性能与成本之间取得了较好的平衡

    2025-06-26 unistar

  • 会议预告 -Zurich 2026 · 首届 X 射线传感器联合研讨会

    点击蓝字 关注我们首届 X 射线传感器联合研讨会是一场独特的盛会,旨在汇聚多学科专家,共同探讨 X 射线传感器技术的最新进展。时间:2026年1月12日--16日地点:ETH, ML E12, Rämistrasse 101,          8092 Zürich, Switzerland1软 X 射线探测器研讨会2026年1月12–14日近年来,CCD(电荷耦合器件)、CMOS imager

    2025-06-16 unistar

  • 众星聚焦-德国DESY!先进X射线光学博士深造机会

    点击蓝字 关注我们尽管全球科技格局面临诸多不确定性,未来的世界也许是割裂的,但是尖端技术的火种、及人类对于未知奇妙世界秩序的探索始终会在文明长河中奔涌不息。 X 射线及极紫外(EUV)技术作为突破物理极限的关键领域,正在推动基础科学、半导体、精密检测等行业的深刻变革。作为深耕 X 射线及极紫外(EUV)核心部件领域的技术服务商和解决方案的探索者,众星联恒始终以"技术瞭望者"的视角,捕捉全球最新的

    2025-07-04 unistar

  • 超快XUV光源的多维度在线表征

    点击蓝字 关注我们超快科学的“眼睛”高次谐波(HHG)技术因其能在实验室产生飞秒甚至阿秒量级的相干XUV脉冲(短脉冲,短波长),而成为超快科学领域的核心工具。这一新型紫外光源将超快实时研究的范畴拓展至原本传统飞秒激光(700–1000 nm)所无法覆盖的光子能量区域。为超快科学领域带来了原子内壳层空穴寿命的直接测定2;单分子解离动力学的实时监测34;固体材料中延迟光电子发射的观测5;强场电离产生的

    2025-06-11 TU

  • 精彩回顾:光子计数探测器在无损检测中的多种成像模式

    点击蓝字 关注我们●报告人简介 ●Jan Jakůbek博士是捷克ADVACAM公司的联合创始人和首席科学官,是物理学家兼成像技术先驱,发表过数百篇学术论文,在X射线探测器设计与应用领域具有悠久的创新历史。他的研究主要聚焦于光子计数技术在X射线成像领域的广泛应用,特别是在无损检测方面。●报告内容简介 ●Jan Jakůbek 博士介绍了以低噪声、高能量灵敏度和宽动态范围著称的光子计数电离辐射成像探

    2025-06-11 TU

  • 大视野·高动态:捷克Advacam全新X射线探测器登场

    点击蓝字,关注我们日前,我们的合作伙伴捷克ADVACAM发布了最新的WidePIX 5×5 MPX3光子计数、像素X射线型探测器。该探测器具备超高动态范围与大成像面积,支持每秒170帧的高速图像采集,并实现极快的数据传输速率,适用于对轻质材料和生物组织进行无损成像。光子计数型探测器通过记录超过设定阈值的X射线光子数量,有效消除传感器及电子读出噪声,从而获得超高对比度和宽动态范围的X射线图像。这一技

    2025-06-11 TU

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