众星聚焦-荷兰 Twente XUV 光学组博士深造机会

2025-07-04 15:59:42 unistar

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尽管全球科技格局面临诸多不确定性，未来的世界也许是割裂的，但是尖端技术的火种、及人类对于未知奇妙世界秩序的探索始终会在文明长河中奔涌不息。 X 射线及极紫外（EUV）技术作为突破物理极限的关键领域，正在推动基础科学、半导体、精密检测等行业的深刻变革。

作为深耕 X 射线及极紫外（EUV）核心部件领域的技术服务商和解决方案的探索者，众星联恒始终以"技术瞭望者"的视角，捕捉全球最新的 X 射线&EUV领域就业、深造机会。

博士职位：

基于混合X射线计量学的多层结构生长优化研究

在特文特大学 (University of Twente) XUV 研究组，我们正在寻找一位聪明、充满热情的博士生加入我们的团队！

目前的研究重点在于结合基于X射线的计量技术（X射线衍射/XRD、X射线反射/XRR、X射线荧光/XRF），开发一套原位X射线计量平台，能够精确表征纳米级多层反射镜内部的光学对比度和界面特性。

「APPLY NOW」

✨ 我们诚邀一位积极主动的博士候选人加入，助力以下尖端领域的开发工作：

Develop and refine a hybrid metrology technique, based on an X-ray metrology platform, in order to achieve precise characterization of a multilayer structure, including their interfaces.
Separately quantify interface morphology(roughness) and interdiffusion zones, analyze interface compound formation, and evaluate the effect of barrier layers on the formed structure and interfaces.
Design multilayer structures tailored for specific analyses.
Guide the process of fabrication of these structures and characterize them with X-ray reflectometry, and other surface science techniques.
Demonstrate the correlation between the structural properties of multilayers and their performance at various wavelengths.

理想背景：

物理学（或相关领域）硕士学位，具备薄膜沉积或薄膜计量学的初步经验，具备扎实的科研技能，并熟练使用 Matlab 或 Python 进行数据分析。

KEY TAKEAWAYS

完整职位详情与申请入口：

https://lnkd.in/eP6qzgYe

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