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![【第三期】揭示扁平结构的内部秘密：X射线计算机层析(CL)成像的兴起]()
【第三期】揭示扁平结构的内部秘密：X射线计算机层析(CL)成像的兴起
点击蓝字，关注我们导读XCT mastery Monthly - 精通X射线CT月刊是由Francesco Iacoviello博士发起、撰写并发布的，旨在给大家分享X射线CT相关的使用技巧、潜在窍门及经验见解。每期都会深入探讨 XCT实践中面临的挑战和解决方案，涵盖以下主题：图像优化：学习实现清晰CT 扫描的技巧。故障排除：掌握克服常见 CT 问题和伪影的策略。高级技术：探索前沿方法和软件功能。
2025-08-13 unistar
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![众星聚焦-瑞典Uppsala，超快X射线科学领域的博士后职位]()
众星聚焦-瑞典Uppsala，超快X射线科学领域的博士后职位
点击蓝字 关注我们尽管全球科技格局面临诸多不确定性，未来的世界也许是割裂的，但是尖端技术的火种、及人类对于未知奇妙世界秩序的探索始终会在文明长河中奔涌不息。 X 射线及极紫外（EUV）技术作为突破物理极限的关键领域，正在推动基础科学、半导体、精密检测等行业的深刻变革。作为深耕 X 射线及极紫外（EUV）核心部件领域的技术服务商和解决方案的探索者，众星联恒始终以"技术瞭望者"的视角，捕捉全球最新的
2025-08-13 unistar
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![用于自由电子激光的金刚石光学元件]()
用于自由电子激光的金刚石光学元件
点击蓝字 关注我们万亿瓦激光劈不开的金刚石！高峰值功率光源光学元件的终极答案微纳金刚石结构加工技术突破与应用全景01背景（光源发展）自1895年，威廉·伦琴偶然发现了 X 光，并拍摄了有史以来第一张 X 光图像，X射线得到广泛的应用。人类对于自主控制X光的发生控制技术也得到了充分的发展，并朝着更亮、更强的方向不断发展。目前基于自由电子激光原理（XFEL）的 X 射线光源正逐步增多，或在建或已投入运
2025-07-28 unistar
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![众星联恒-前沿视界- 极紫外光刻解决方案提供商ESOL获得740亿韩元B轮投资]()
众星联恒-前沿视界- 极紫外光刻解决方案提供商ESOL获得740亿韩元B轮投资
点击蓝字 关注我们世界或许会分化，但科学的光永不熄灭尽管全球科技格局面临诸多不确定性，未来的世界也许是割裂的，但是尖端技术的火种、及人类对于未知奇妙世界秩序的探索始终会在文明长河中奔涌不息。 X 射线与极紫外（EUV）技术作为突破物理极限的关键领域，正在推动基础科学、半导体、精密检测等行业的深刻变革。作为深耕极紫外（EUV）及X射线核心部件领域的技术服务商和解决方案的探索者，众星联恒始终以"技术瞭
2025-07-18 unistar
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![超越吸收-相衬&光谱成像技术打开显微CT新“视界”]()
超越吸收-相衬&光谱成像技术打开显微CT新“视界”
点击蓝字关注我们微型计算机断层扫描又名微米CT（micro-CT）技术作为无损检测（NDT）、材料分析和生物医学研究的关键成像技术已应用数十年。然而随着现代材料日益复杂化——多材料组件、精细微结构和低密度元件的出现，传统基于吸收成像的micro-CT技术局限性愈发凸显。为应对这些新挑战，micro-CT技术已突破单一吸收对比模式，整合了相衬成像与光谱成像等新型对比度机制。KAImaging公司的i
2025-07-18 unistar
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![【第二期】揭开隐形的面纱：计算机断层扫描中X射线产生的奇迹]()
【第二期】揭开隐形的面纱：计算机断层扫描中X射线产生的奇迹
点击蓝字，关注我们导读XCT mastery Monthly - 精通X射线CT月刊是由Francesco Iacoviello博士发起、撰写并发布的，旨在给大家分享X射线CT相关的使用技巧、潜在窍门及经验见解。每期都会深入探讨 XCT实践中面临的挑战和解决方案，涵盖以下主题：图像优化：学习实现清晰CT 扫描的技巧。故障排除：掌握克服常见 CT 问题和伪影的策略。高级技术：探索前沿方法和软件功能。
2025-07-10 unistar
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![国际快讯-中子研究盛会启幕！XRnanotech 与你共赴前沿]()
国际快讯-中子研究盛会启幕！XRnanotech 与你共赴前沿
点击蓝字 关注我们1ICNS 2025国际中子散射大会（ICNS）是国际中子散射学会授权举办的四年一届的权威学术会议。本届会议由欧洲散裂中子源（ESS）和隆德大学联合主办，全球中子科学领域的科研人员将齐聚盛会，共同聚焦：中子源与仪器技术进展凝聚态物理与材料科学应用软物质与生物结构研究会议时间：2025 年 7 月 6 日 - 10 日举办地点：瑞典隆德大学主会场 丹麦哥本哈根
2025-07-10 unistar
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![Timepix系列混合像素探测器推动4D-STEM等电镜技术的发展]()
Timepix系列混合像素探测器推动4D-STEM等电镜技术的发展
点击蓝字，关注我们导读过去十年间，直接电子探测器技术的迅速发展，推动了扫描电镜（SEM）、透射电镜（TEM）和扫描透射电镜（STEM）中的多种应用技术发展，包括冷冻电镜单粒子分析、原位TEM、micro-ED、电子背散射衍射、4D-STEM和电子能量损失谱等。相较于传统闪烁体耦合的间接探测器，直接电子探测器凭借更高的灵敏度与信噪比（SNR）优势，已在材料和生物电子显微领域得到广泛应用，成为一项重要
2025-07-04 unistar
