CCD常见术语

  • 电荷包耦合(转移)- 信号的读出

    电荷包耦合(转移)- 信号的读出

    2020-03-02 183

  • 行转移时间和像素读出时间:

    一个像素的电荷包移动到下一个像素需要一定的时间,所需时间即为行转移时间。像素的电荷包移入水平移位寄存器后,需要移出、放大和数字化处理,也需要一定的时间,所需时间称为像素读出时间,一般以读出频率给出。Greateyes CCD行转移时间最大100μs。读出频率有3级可选;500kHz、1MHz和2.8MHz。转移效率和损失率:电荷包在像素之间转移和水平寄存器的转移过程中,可能会有电子损失,这是CCD

    2020-03-02 39

  • 芯片等级和缺陷(Blemish)

    对最上面一行像素的电荷包,读出时需要通过其所在列的所有像素。如果一列像素中的某个像素不能形成势阱,或形成的势阱有缺陷,则在其上面的行的像素电荷包就不能转移出去或转移不完全。这是一种缺陷。像素感光失效,或量子效率变低,这也是一种缺陷。缺陷的种类分为:Traps 陷阱:Pixels where charge is temporarily held. Traps are counted if they

    2020-03-02 38

  • CCD 输出结构

    电荷包水平移位寄存器的最后一个寄存器后,需要将电荷包无破坏地以电流或以电压的方式输送出去。输出结构有:反偏二极管输出结构、浮置扩散层(FD)输出结构、浮置栅结构、分布式浮置栅结构等。其中浮置扩散层(FD)输出结构用得最多,如下图:输出栅极为一固定的中等电平,在Φreset为低电平,Φ3下降时,电荷包转移到反偏二极管的位阱中,D点电位发生变化,被T2管放大、检出,送至模拟-数字转换电路(当然也可以不

    2020-03-02 23

  • CCD增益(Gain)和帧率(frame rate)

    电荷包对应的数字量。一般表示为一个电子对应多少个计数,或多少个计数对应一个电子。科学级CCD大多数有多级增益可设置,以适合不同的光照条件(强光和弱光),高增益(高灵敏度)适合弱光,低增益适合强光(低灵敏度)。Greateyes以count/e给出这个性能指标,有两级增益可设置:

    2020-03-02 100

  • 像素读出频率的限制

    下限:为避免热激发产生的电子(暗电流)的影响,要求电荷包从一个栅极转移到下一个栅极所用时间t必须小于暗电子(P-Si少子)的平均寿命τi,平均寿命与温度相关,温度越高,寿命越短。对三相耦合读出结构来说,读出频率:                         &nbs

    2020-03-02 22

  • 面阵CCD的体系结构

    从前文可知,获取一幅图像的过程包括图像获取(曝光)和图像读出。因此,根据CCD感光单元(像素)和读出电路布局的不同,主要有3种不同的体系结构。1.         隔列转移(Interline-Transfer)像素与转移单元交替排列。像素曝光结束后,将电荷包转移到转移单元,可迅速开始下一次曝光。曝光期间,转移单元将电

    2020-03-02 38

  • Binning – 像素联用

    Binning – 像素联用分为硬件Binning和软件Binning。科学级CCD通常都提供硬件Binning功能。硬件Binning:将几个像素的信号在读出之前相加,这种方式减少了读出次数,因而减少了读出噪声,提高了信噪比。硬件Binning是在移位寄存器中完成的。如下图,假设要进行4像素联用,下图红色虚框所示:读出过程如下:1.     &n

    2020-03-02 47

上一页123下一页 转至第
首页
产品
新闻
联系