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![学术会议邀请 - iWoRiD第26届辐射成像探测器国际研讨会]()
学术会议邀请 - iWoRiD第26届辐射成像探测器国际研讨会
点击蓝字关注我们iWoRiD 辐射成像探测器国际研讨会每年举行一次，其目的是为从事辐射成像探测器领域的科研学者提供一个分享新进展新成就，探讨未来发展和深化交流合作的国际化平台。研讨会聚焦半导体、气体和闪烁体探测器，主题包括探测器材料的处理和表征、混合和互连技术、计数或集成电子器件的设计、读出和数据采集系统，以及涉及科研及工业领域的多项应用。今年的会议将于7月6-10日在美丽的斯洛伐克（Slovak
2025-07-04 unistar
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![前沿快讯- XRnanotech携Microworks亮相巴黎DIR2025国际研讨会]()
前沿快讯- XRnanotech携Microworks亮相巴黎DIR2025国际研讨会
点击蓝字 关注我们1PARIS · DIR 20252025 年 7 月 1 日 - 3 日，第十届数字工业放射学与计算机断层扫描国际研讨会（DIR2025） 将在法国巴黎盛大召开！作为工业成像领域极具影响力的交流平台，届时全球行业专家齐聚，聚焦前沿技术、应用趋势与创新突破，堪称洞察行业风向的关键窗口。会议时间：2025 年 7 月 1 日 - 3 日举办地点：法国 · 巴黎2XRnanotech
2025-07-04 unistar
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![当桌面软X射线遇上平面液膜技术-液相化学研究的便携革命]()
当桌面软X射线遇上平面液膜技术-液相化学研究的便携革命
点击蓝字关注我们液相化学反应是许多重要反应的基础，原位观测溶液相中的金属离子价态、金属-配体电子结构转移等对基础科学问题的研究至关重要，传统表征方法要么“看不透”（如FTIR等），要么需要依赖同步辐射光源“排长队”。近年来，利用紧凑聚焦的超快强激光脉冲与稀有气体靶相互作用产生的XUV高次谐波（HHG）被证明是液相反应体系原位观测的一种重要实验探针，使研究人员能够在飞秒甚至阿秒时间尺度下捕捉到溶液相
2025-07-04 unistar
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![全新发布：背照式sCMOS相机 CHARLIE——让探测无界，让发现自由！]()
全新发布：背照式sCMOS相机 CHARLIE——让探测无界，让发现自由！
点击蓝字 关注我们最新发布在柏林墙的历史印记中，查理检查站（Checkpoint Charlie）曾是冷战时期最具象征意义的边界通道，连接着分裂的世界。它不仅是东西方交汇的物理节点，更承载着突破隔阂、探索未知的精神。以此为灵感，greateyes推出新一代背照式 sCMOS 相机——命名为 CHARLIE。这一命名不仅致敬柏林这座融合历史与创新的城市，更隐喻这款相机的核心使命：成为科学探测中的“边
2025-07-04 unistar
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![众星聚焦-荷兰 Twente XUV 光学组博士深造机会]()
众星聚焦-荷兰 Twente XUV 光学组博士深造机会
点击蓝字 关注我们尽管全球科技格局面临诸多不确定性，未来的世界也许是割裂的，但是尖端技术的火种、及人类对于未知奇妙世界秩序的探索始终会在文明长河中奔涌不息。 X 射线及极紫外（EUV）技术作为突破物理极限的关键领域，正在推动基础科学、半导体、精密检测等行业的深刻变革。作为深耕 X 射线及极紫外（EUV）核心部件领域的技术服务商和解决方案的探索者，众星联恒始终以"技术瞭望者"的视角，捕捉全球最新的
2025-07-04 unistar
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![【首刊】X射线CT的样品制备：手工与激光微加工的对比及其在不同领域的应用]()
【首刊】X射线CT的样品制备：手工与激光微加工的对比及其在不同领域的应用
点击蓝字，关注我们导读XCT mastery Monthly - 精通X射线CT月刊是由Francesco Iacoviello博士发起、撰写并发布的，旨在给大家分享X射线CT相关的使用技巧、潜在窍门及经验见解。每期都会深入探讨 XCT实践中面临的挑战和解决方案，涵盖以下主题：图像优化：学习实现清晰CT 扫描的技巧。故障排除：掌握克服常见 CT 问题和伪影的策略。高级技术：探索前沿方法和软件功能。
2025-06-26 unistar
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![报告回顾：基于Timepix3的 ePix探测器在4D-STEM中的应用]()
报告回顾：基于Timepix3的 ePix探测器在4D-STEM中的应用
点击蓝字，关注我们报告人简介Pavel StejskalPavel Stejskal是捷克Advascope公司的执行董事，Pavel 拥有核物理、高速数字和射频电子、信号处理和数据采集方面的专业背景，获伦敦帝国理工学院高能物理学博士学位。曾任职于CERN及FEI（现为赛默飞世尔科技），担任研究科学家一职。拥有直接电子探测、算法开发和信号处理等方向的多项专利。报告内容简介借助Advascope的新
2025-06-23 unistar
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![EUV tech发布HVM级、极紫外波带片显微系统- AIRES®]()
EUV tech发布HVM级、极紫外波带片显微系统- AIRES®
点击蓝字，关注我们昨日，美国EUV Tech公司发布一款用于光刻掩膜版缺陷检测的HVM级、极紫外波带片显微系统- AIRES®。相较于2020年交付的原型机，该系统的亮点是能满足大规模生产的需求[1]。众星快评：实现HVM的核心是有效的提高系统的检测速度，核心要素一是提高光源的亮度，二是提高光学系统的NA。 故做出如下大胆推测 光源层面DPP ☛ LPP (Sn Target) ☛ LPP (Li
2025-05-13 unistar
