X射线分辨率测试卡/微纳CT评估模体

X射线分辨率测试卡/评估模体

X射线成像系统、CT成像质量测试及校正

X射线分辨率测试卡是测量成像系统成像质量的重要工具,我司可提供各种类型的测试卡以满足您的各种需求。图案类型包括线对、孔阵列和西门子星等。最小图案尺寸低至20nm,面对高能的高分辨X射线应用,我们可以提供厚达3微米的金吸收体,以满足高能高分辨成像系统的测试需求。


同时我们还可以提供用:

于纳米CT体素校准的模体- Voxel-spirit 可实现快速和直观的体素大小校准,Voxel-spirit 甚至可以满足严格的视场 (FOV) 限制和高精度要求 。


遵从ASTM E1695-95的Resolution-spirit 通用模体组,适用于纳米CT和微米CT的空间分辨精密评估。它适用于可变市场限制及高精度的需求。


带有用于 nanoCT 和 microCT 测量的基准标记的样品架-R1-Shadow,可以快速直观地校正旋转台的不准确性和 CT 数据配准,适用于双能量 CT 或 4D CT 等应用。 R1-Shadow 是一种多用途解决方案,适合可变视场 (FOV) 限制和高精度要求。


类型图案布局图案规格吸收体类型及厚度
纳米分辨率测卡XRESRO-20北京众星联恒科技有限公司



①Radial Pattern

③④Hole Pattern

⑤⑥⑦⑧L&S Pattern


100nm hole

50nm L&S

20nm Radial patterns

Ta 100nm

纳米分辨率测卡XRESRO-50HC北京众星联恒科技有限公司




100nm hole

50nm L&S

50nm Radial patterns



Ta 500nm

纳米分辨率测卡XRESRO-100北京众星联恒科技有限公司

100nm L&S

200nm L&S

400nm L&S

600nm L&S

800nm L&S


100nm Radial patterns

Ta 1000nm

3D西门子星分辨测试卡


北京众星联恒科技有限公司最小细节小于200nm

结构高度200µm

尺寸Fhi 100µm


显微CT分辨测试卡北京众星联恒科技有限公司

布局由嵌套的L形组成,线宽为: 50 –40 –30 –20 –15 –10 –9 –8 –7 -6 -5 –4 –3 -2 –1.5 -1 –0.9 -0.8 -0.7 –0.6 -0.5 –0.4 –0.35 –0.3 –0.25 –0.2 (微米)

约1.5µm米厚金

Yxlon标准分辨率测试卡

北京众星联恒科技有限公司5.0, 4.0, 3.2, 2.5, 2.0, 1.6, 1.3, 1.0, 0.9, 0.8, 0.7, 0.6, 0.5, 0.45, 0.4, 0.35, 0.3 µm线对3 µm高金

NanoXSpot分辨率测试卡

北京众星联恒科技有限公司4象限区域,每个区域4 mm x 4 mm,含两个改良的西门子星,孔阵列(最小孔径5微米),7组有不同方向的线对(12 µm, 10 µm, 8 µm, 6 µm, 5 µm, 4 µm, and 3 µm)8 µm高金

微纳CT分辨率测试模体

Spirit resolution

北京众星联恒科技有限公司

球直径: 0.5, 1.0, 2.5, 5.0mm


< 1 μm to > 10 μm 体素尺寸CT应用


遵从 ASTM E1695-95 标准


红宝石

纳米CT体素校准模体

Voxel-Spirit

北京众星联恒科技有限公司

球直径: 0.3 mm

球距离: 0.45 mm (认证精度: 0.06 μm)


<1 μm 体素CT应用

红宝石
微纳CT转台摆动校正样品架

北京众星联恒科技有限公司

基准尺寸 [µm]: 25 25 50 100

适用于 Dual-Energy CT or 4D CT             

红宝石



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