XRN显微CT分辨率测试卡（0.1-50μm）
X射线分辨率测试卡是测量成像系统成像质量的重要工具，我司可提供各种类型的测试卡以满足您的各种需求。图案类型包括线对、孔阵列和西门子星等。
- 产地： 瑞士
- 型号： uCT-XRn系列
- 品牌： XRnanotech
产品介绍：
空间分辨率是 CT 图像质量的一项重要性能指标，其测试工作也是 CT 设备性能测试的重要内容。线对卡法，是使用线对测试卡直接测试空间分辨率，由于操作方便、简捷而被广泛用于 实际工业 CT 空间分辨率的测试中。
新一代显微CT分辨率测试卡：提升您的 X 射线成像体验！我们尖端的测试卡通过融合现代微纳米制造技术（包括顶级电子束光刻技术）精心设计、制造而成。创新的测试图案展示了从 50μm 到 200nm 的线条和空间，以及西门子星图形。我们的标准产品旨在超越预期。对于寻求量身定制解决方案的客户，我们还提供完全可定制的选项。
主要参数：
高衬度材料: 4 /1.5/1 μm 金可选
超宽的测试范围：0.2-50μm含26中线对
紧凑的设计：含或不含西门子星图案
深度的SEM测试：保证出货前每片测试，以保证测试精度
保护层：5μm厚聚合物，以增强机械强度和寿命
快递交付：大量库存
质量保证：每年交付数百片
领先的衬噪比：
关于XRnanotech：
XRnanotech是瑞士领先的高质量x射线光学元件制造商，从具有破纪录分辨率的高纵横比菲涅耳带片到超稳定的钻石光学元件和用于广泛x射线应用的定制3d纳米结构。众星联恒联合XRnanotech，为中国用户提供所有售前咨询，销售及售后服务，欢迎联系我们。
产品手册：
显微CT分辨率测试卡 MicroCT Resolution Test Target-产品手册-众星联恒-2025-4-7.pdf
参考文献：