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![众星聚焦-荷兰 Twente XUV 光学组博士深造机会]()
众星聚焦-荷兰 Twente XUV 光学组博士深造机会
点击蓝字 关注我们尽管全球科技格局面临诸多不确定性，未来的世界也许是割裂的，但是尖端技术的火种、及人类对于未知奇妙世界秩序的探索始终会在文明长河中奔涌不息。 X 射线及极紫外（EUV）技术作为突破物理极限的关键领域，正在推动基础科学、半导体、精密检测等行业的深刻变革。作为深耕 X 射线及极紫外（EUV）核心部件领域的技术服务商和解决方案的探索者，众星联恒始终以"技术瞭望者"的视角，捕捉全球最新的
2025-07-04 unistar
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![【首刊】X射线CT的样品制备：手工与激光微加工的对比及其在不同领域的应用]()
【首刊】X射线CT的样品制备：手工与激光微加工的对比及其在不同领域的应用
点击蓝字，关注我们导读XCT mastery Monthly - 精通X射线CT月刊是由Francesco Iacoviello博士发起、撰写并发布的，旨在给大家分享X射线CT相关的使用技巧、潜在窍门及经验见解。每期都会深入探讨 XCT实践中面临的挑战和解决方案，涵盖以下主题：图像优化：学习实现清晰CT 扫描的技巧。故障排除：掌握克服常见 CT 问题和伪影的策略。高级技术：探索前沿方法和软件功能。
2025-06-26 unistar
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![报告回顾：基于Timepix3的 ePix探测器在4D-STEM中的应用]()
报告回顾：基于Timepix3的 ePix探测器在4D-STEM中的应用
点击蓝字，关注我们报告人简介Pavel StejskalPavel Stejskal是捷克Advascope公司的执行董事，Pavel 拥有核物理、高速数字和射频电子、信号处理和数据采集方面的专业背景，获伦敦帝国理工学院高能物理学博士学位。曾任职于CERN及FEI（现为赛默飞世尔科技），担任研究科学家一职。拥有直接电子探测、算法开发和信号处理等方向的多项专利。报告内容简介借助Advascope的新
2025-06-23 unistar
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![精准解析电池材料与器件性能的先进表征工具- SpotLight-P多毛细管微焦点X射线光源]()
精准解析电池材料与器件性能的先进表征工具- SpotLight-P多毛细管微焦点X射线光源
引 言微焦点X射线光源因其高分辨率和精准的微区分析能力，在材料科学、半导体检测等领域有广泛应用。然而，传统用于成像的微焦点X射线源无法满足原位衍射场景对工作距离、输出焦点尺寸和发散角的严苛要求，而基于多层膜镜的高性能光源又因价格昂贵难以普及。由高端X射线核心部件原始制造商-艾格斯瑞推出的SpotLight-P微焦点X射线光源（如下图1），基于毛细管X光透镜技术路径，在性能与成本之间取得了较好的平衡
2025-06-26 unistar
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![会议预告 -Zurich 2026 · 首届 X 射线传感器联合研讨会]()
会议预告 -Zurich 2026 · 首届 X 射线传感器联合研讨会
点击蓝字 关注我们首届 X 射线传感器联合研讨会是一场独特的盛会，旨在汇聚多学科专家，共同探讨 X 射线传感器技术的最新进展。时间：2026年1月12日--16日地点：ETH, ML E12, Rämistrasse 101, 8092 Zürich, Switzerland1软 X 射线探测器研讨会2026年1月12–14日近年来，CCD（电荷耦合器件）、CMOS imager
2025-06-16 unistar
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![众星聚焦-德国DESY！先进X射线光学博士深造机会]()
众星聚焦-德国DESY！先进X射线光学博士深造机会
点击蓝字 关注我们尽管全球科技格局面临诸多不确定性，未来的世界也许是割裂的，但是尖端技术的火种、及人类对于未知奇妙世界秩序的探索始终会在文明长河中奔涌不息。 X 射线及极紫外（EUV）技术作为突破物理极限的关键领域，正在推动基础科学、半导体、精密检测等行业的深刻变革。作为深耕 X 射线及极紫外（EUV）核心部件领域的技术服务商和解决方案的探索者，众星联恒始终以"技术瞭望者"的视角，捕捉全球最新的
2025-07-04 unistar
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![超快XUV光源的多维度在线表征]()
超快XUV光源的多维度在线表征
点击蓝字 关注我们超快科学的“眼睛”高次谐波（HHG）技术因其能在实验室产生飞秒甚至阿秒量级的相干XUV脉冲（短脉冲，短波长），而成为超快科学领域的核心工具。这一新型紫外光源将超快实时研究的范畴拓展至原本传统飞秒激光（700–1000 nm）所无法覆盖的光子能量区域。为超快科学领域带来了原子内壳层空穴寿命的直接测定2；单分子解离动力学的实时监测34；固体材料中延迟光电子发射的观测5；强场电离产生的
2025-06-11 TU
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![精彩回顾：光子计数探测器在无损检测中的多种成像模式]()
精彩回顾：光子计数探测器在无损检测中的多种成像模式
点击蓝字 关注我们●报告人简介 ●Jan Jakůbek博士是捷克ADVACAM公司的联合创始人和首席科学官，是物理学家兼成像技术先驱，发表过数百篇学术论文，在X射线探测器设计与应用领域具有悠久的创新历史。他的研究主要聚焦于光子计数技术在X射线成像领域的广泛应用，特别是在无损检测方面。●报告内容简介 ●Jan Jakůbek 博士介绍了以低噪声、高能量灵敏度和宽动态范围著称的光子计数电离辐射成像探
2025-06-11 TU
