行业资讯

超越吸收-相衬&光谱成像技术打开显微CT新“视界”

2025-07-18 10:54:30 unistar

点击蓝字

关注我们


微型计算机断层扫描又名微米CT(micro-CT)技术作为无损检测(NDT)、材料分析和生物医学研究的关键成像技术已应用数十年。然而随着现代材料日益复杂化——多材料组件、精细微结构和低密度元件的出现,传统基于吸收成像的micro-CT技术局限性愈发凸显。


为应对这些新挑战,micro-CT技术已突破单一吸收对比模式,整合了相衬成像与光谱成像等新型对比度机制。KAImaging公司的inCiTe™ 3D X射线显微镜通过BrillianSe™和Reveal™两项先进探测器技术,实现了这两种互补性成像方法的融合。

北京众星联恒科技有限公司

图1 inCiTe™ 2.0 3D X射线显微镜


核心局限

单一吸收成像力有不逮

北京众星联恒科技有限公司


传统micro-CT依赖X射线衰减原理——即材料对穿透射线的能量吸收程度。高密度材料吸收率高,低密度材料吸收率低。但当不同材料具有相似的衰减特性,或关键特征尺寸极为微小时,单一的吸收衬度成像往往是不够的。


这为各行业带来挑战:

• 半导体与电子学:微孔洞、裂纹及薄互连层检测

• 复合材料与增材制造:纤维取向、孔隙率及分层缺陷解析

• 生物医学研究:无需破坏性样本制备即可对软组织和植入物进行可视化观察

• 多材料组件:聚合物、金属及层状结构的区分


单纯提高分辨率或剂量并非总是可行的,特别是对于精细样品或高通量环境。必须引入新的对比机制来突破这些限制。


多元对比机制

应对成像需求演进的

两种技术路径

北京众星联恒科技有限公司


路径1:高分辨相衬成像——

精细结构与低密度材料的可视化

相衬成像不仅记录X射线吸收量,还捕捉射线穿透不同材料时的波前相位偏移。这显著提升了低密度与弱吸收材料的成像对比度,这些材料在单一吸收对比下难以显影。

北京众星联恒科技有限公司

图2 相位对比

inCiTe™ 的两种配置均采用无光栅的同轴相衬技术,通过记录X射线穿透样品后的干涉图案来增强边界清晰度与内部细节分。


当配备KAImagingBrillianSe™非晶硒直接探测器时,相衬成像性能达到极致:

  • 8μm像素尺寸实现亚微米体素分辨率(低至0.8μm)

  • 低/高能量下均具备高探测量子效率(DQE)

  • 非晶硒直接转换消除闪烁体导致的光学模糊

  • 卓越的边缘锐度与微细特征检出能力

北京众星联恒科技有限公司

图3 BrillianSe™ a-Se/CMOS 探测器

该配置特别适用于:

  • 聚合物与复合材料

  • 薄膜与涂层

  • 软生物组织

  • 微电子器件与互连结构


借助BrillianSe™,inCiTe™ 3D X射线显微镜无需染色、切片或破坏性处理即可获得亚微米级相衬图像。


路径2:兼具相衬优势的光谱(多能)成像——

基于材料成分的精准辨析

相衬成像虽能显示精细结构,却无法区分材料元素组成。此时光谱(多能)CT技术显得至关重要。


光谱(多能)CT通过测量材料在多个能量下的X射线吸收特性,可区分密度相近但原子序数不同的物质。典型应用包括:

  • 注塑电子件中金属与聚合物的分离

  • 航空航天复合材料异物的识别

  • 电池电极材料分析

  • 多材料组件的层间区分

北京众星联恒科技有限公司

图4 18650电池成像效果对比

在此配置中,KAImagingReveal™ 35C探测器发挥着核心作用。凭借其专有的三层设计,Reveal™ 35C在单次曝光中同时捕获多能带数据,避免滤光片的切换并有效抑制运动伪影。同时同轴相衬技术使Reveal™ 35C仍能获得相位衬度增强效果——尤其在高倍放大或大型部件内低密度结构成像时。

北京众星联恒科技有限公司

图5 Reveal™ 35C


虽然空间分辨率较低(140μm像素尺寸),但这种配置为需要成分分析与多材料分离的大型样品提供了理想方案。inCiTe™ 2.0在整合这些多能成像功能的同时,仍保留相位边缘增强能力。


特性

探测器技术决定成像边界

北京众星联恒科技有限公司

特性

BrillianSe™

高分辨相衬

Reveal™

多能成像含相衬增强

探测器

类型

直接转换

(非晶硒/CMOS)

三层间接转换

(CsI)

核心优势

亚微米分辨率与

精细结构细节

多能材料分离

分辨率

8μm像素/

0.8μm体素

140μm像素

相衬能力

相位灵敏度优化

多能成像下的

相位增强

理想应用

场景

复合材料、半导体

生物组织

多材料组件、电子

航空航天、电池


inCiTe™ 3D 

X射线显微镜

应对复杂材料的

模块化成像方案

北京众星联恒科技有限公司


KAImaginginCiTe™3D X射线显微镜为实验室和制造商提供模块化工具以应对广泛成像挑战:

技术规格

X射线光源模块

北京众星联恒科技有限公司

探测器模块

北京众星联恒科技有限公司


BrillianSe配置

  • 高分辨相衬(亚微米细节)

  • 低剂量,高DQE

  • 精细结构与软材料成像首选


Reveal配置

  • 同步多能谱采集

  • 高效材料成分分离

  • 大样品的相位增强结构对比度


系统参数

北京众星联恒科技有限公司


这种灵活架构允许用户在紧凑的台式3D X射线显微镜系统中,根据材料特性、样本尺寸和检测需求选择最优配置。


结论

扩展micro-CT的成像能力

北京众星联恒科技有限公司

随着材料日益复杂,传统CT技术已难以满足当前成像需求。相衬成像与多能成像已成为跨行业精准表征材料微观结构与成分的关键手段。


KAImaging的inCiTe™ 整合这两大对比度机制,并搭载BrillianSe与Reveal探测器,使研究人员和工程师能够全面解析当今最先进材料的内部特性。


相关阅读:

基于8μm高分辨率非晶硒探测器的科研级相衬微米CT

双能与相衬成像的完美交响:全新inCiTe 2.0 X射线显微镜的奇妙之旅

跨向理想X射线探测器的一小步-高分辨、非晶硒X射线探测器及其应用

直接转换8μm混合像素CMOS X射线探测器在材料科学中的新应用

相衬显微CT和非晶硒探测器在农业和自然中的应用

高分辨非晶硒探测器(BrillianSe)助力美国阿贡国家实验室APS高能X射线显微成像


北京众星联恒科技有限公司

KAImaging 源自加拿大滑铁卢大学,成立于2015年。作为一家专门开发x射线成像技术和系统的公司,KAImaging以创新为导向,致力于利用其先进的 X 射线技术为医疗、兽医学和无损检测工业市场提供最佳解决方案。公司拥有独家开发并自有专利的高空间高分辨率非晶硒(a-Se)X射线探测器BrillianSe™和多能平板探测器Reveal™,并基于此推出了商业化X射线相衬微米CT inCiTe™ 2.0。

TOP-UNISTAR

关于众星联恒 

北京众星联恒科技有限公司作为 KAImaging 在中国地区的授权代理,全面负责 BrillianSe™ 、Reveal™及 inCiTe™ 在中国市场的产品售前咨询,销售以及售后业务。KA Imaging 将对众星联恒提供全面、深度的技术培训和支持,以便更好地服务于中国客户。众星联恒及我们来自全球高科技领域的合作伙伴们将继续为中国广大科研用户及工业用户带来更多创新技术及前沿资讯!

END

文稿:凯尔西

审核:凯文

排版:Sylvia

北京众星联恒科技有限公司


免责声明:

此篇文章内容(含图片)部分来源于网络。文章引用部分版权及观点归原作者所有,北京众星联恒科技有限公司发布及转载目的在于传递更多行业资讯与网络分享。若您认为本文存在侵权之处,请联系我们,我们会在第一时间处理。如有任何疑问,欢迎您随时与我们联系。

首页
产品
新闻
联系