13.5nm半透半反/分束镜
EUV 性能 波长: 13.5 nm 反射率: R ~ 30 % 透射率: T ~ 20 % 偏振: s-pol. 带宽 (FWHM): appr. 2 nm 入射角: 45 degrees 基底 分束器框架材料: Si (100)尺寸: 12.0±0.25 mm x 12.0±0.25 mm 厚度: 525±20 μm 窗口尺寸: 8±0.15 mm x 8±0.15 mm 薄膜材料: Si3
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EUV 性能 波长: 13.5 nm 反射率: R ~ 30 % 透射率: T ~ 20 % 偏振: s-pol. 带宽 (FWHM): appr. 2 nm 入射角: 45 degrees 基底 分束器框架材料: Si (100)尺寸: 12.0±0.25 mm x 12.0±0.25 mm 厚度: 525±20 μm 窗口尺寸: 8±0.15 mm x 8±0.15 mm 薄膜材料: Si3
公司介绍
得益于北京众星联恒科技有限公司在中国X射线、极紫外的专注,近10年的积累,对于极紫外光学技术及中国有较为深入的了解。而德国optiXfab公司于2012年开始商业化Fraunhofer研究所的Mo/Si多层膜专利技术,至今已经给客户生产了近2万多片镜片,中大多数都是半导体工业的客户,如LLP光源的收集镜及Schwarzschild物镜等。经过双方充分的讨论及密切,我们共同决定将在半导体工业应用成熟的镀膜技术推广基于HHG,激光驱动等离子小型极紫外光源的科研应用,针对中国市场联合推出的1/0.5英寸的高性能13.5nm多层膜镜片,并在中国办公室备有库存,以实现镜片的快速交付。同时把EUVL级别镀膜技术带到中国基础科研市场,并可以提供灵活的定制服务,以满足前沿科学研究的特种要求。
波长: 13.5 nm
反射率: R ~ 30 %
透射率: T ~ 20 %
偏振: s-pol.
带宽 (FWHM): appr. 2 nm
入射角: 45 degrees
分束器框架材料: Si (100)
尺寸: 12.5±0.25 mm x 12.5±0.25 mm
厚度: 525±20 μm
窗口尺寸: 8±0.15 mm x 8±0.15 mm
薄膜材料: Si3N4
薄膜厚度: ~ 100 nm
多层膜设计: Mo/Si

定制选项
窗口尺寸(镀膜区域)
反射带宽
入射角度
s, p偏振反射率优化
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