proXAS桌面近边X射线吸收精细结构谱仪 200-1200eV/台式XAFS

结合了高度可靠的激光驱动等离子体XUV光源和定制的具有1500极高分辨能力的光谱仪,proXAS是一个实验室级别NEXAFS测量的系统。200-1200eV的能量范围允许分析C,N,O,Ca,Ti等元素边。

  • 产地: 德国
  • 型号: proXAS
  • 品牌: HP Spectroscopy

公司介绍

德国HP Spectroscopy公司成立于2012年,致力于为全球科研及工业领域的客户定制最佳解决方案,是科学仪器的全球供应商和领先开发商。产品线包括XAS系统,XUV/VUV/X-ray光谱仪,beamline产品等。主要团队由x射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline等领域的专家组成。并与全球领先的研究机构的科学家维持紧密合作,关注前沿技术,保持产品的迭代与创新。


产品简介

  • 首台一体化桌面NEXAFS系统

  • 不在需要申请和等待同步辐射机时

  • 用于地质、生物、材料研究的化学态分析

  • 同步辐射级的光谱质量


proXAS是一台实验室级别NEXAFS测量的系统。 现在可以在科研人员自己的实验室进行获得快速,准确的元素指纹分析。 它结合了高度可靠的激光驱动等离子体XUV光源和定制的具有1500极高分辨能力的光谱仪。200-1200eV的能量范围允许分析C,N,O,Ca,Ti等元素边。


测量结果

proXAS-测试结果1.jpg  北京众星联恒科技有限公司

左图是用桌面系统测试200nm聚酰亚胺薄膜的碳K边NEXAFS光谱(60发脉冲平均值)。右图为桌面系统测试结果与同步辐射测试结果的对比。

(data courtesy of Dr. K. Mann, IFNANO)

北京众星联恒科技有限公司

proXAS测得的几种有机物的 (a) C K边、(b) Ca L边及 (c) O K边吸收谱

北京众星联恒科技有限公司

proXAS对4种含铁矿物(针铁矿、赤铁矿、水铁矿和Cca-2绿泥石)的O K边NEXAFS 测量结果(左)与同步辐射同类测试结果(右)

北京众星联恒科技有限公司北京众星联恒科技有限公司

proXAS对PMDA-ODA聚酰亚胺的C K边NEXAFS 测量结果(左)与同步辐射同类测试结果(右)

北京众星联恒科技有限公司       北京众星联恒科技有限公司

proXAS对CeO2的O元素的K边的NEXAFS 测量结果(左),包含同类样品的同步辐射测量结果(右)


主要参数

光源

无碎片的激光驱动 XUV 光源

能量范围

200-1200eV / 1-6nm

重复频率

25Hz

光源功率稳定性

±1.5%

光谱仪

像差校正平场光谱仪

分辨率

1500

样品安装

多样品转轮

占地面积

1.5m x 1.0m

软件套件

集成系统控制,各种光谱校准和分析功能


主要应用


l  表面科学

l  地球化学中的化学状态分析

l  电子结构与氧化态分析


北京众星联恒科技有限公司HP-Spectroscopy_proXAS_datasheet_2022.09.07.pdf


“足不出户,走进XAFS” proXAS高分辨实验室桌面NEXAFS谱仪助力材料化学结构表征分析


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