极紫外透/反射测试图案

可提供图案:线宽和缝宽80 nm以下。

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产品介绍:

对于微曝光工具性能测试或缺陷检测技术(PTY等)能力验证,我们基于多年的经验和强大的高精度微纳结构加工及镀膜能力,我司可以提供多种类型极紫外(EUV)测试图案。

 

1)          基于纳米透射光栅类透射测试结构

北京众星联恒科技有限公司

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2)          在极紫外多层膜上制作HSQ或金属吸收体微纳图案

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3)          在作HSQ或金属吸收体微纳图案上沉积极紫外多层膜

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