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![众星动态-上海光源探测器技术交流与使用优化巡访活动圆满举办]()
众星动态-上海光源探测器技术交流与使用优化巡访活动圆满举办
WORKSHOP美丽的上海光源高端探测器是同步辐射建设不可或缺的核心设备，其性能直接影响实验数据的准确性和科研成果的可靠性。合理选择关键部件是确保实验成功的第一步，而正确使用这些设备，则是保障实验数据质量和稳定性的关键。2025年1月8-9日，我司在上海光源成功举办了为期两天的探测器技术交流与使用优化巡访活动。我们在研讨会上与相关的专家进行了EUV/X射线各类探测器的特点和应用探讨，并就CCD相机
2025-01-14 unistar
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![文献速递：边缘照明X射线相衬微米CT中体各向异性的自监督分辨率增强]()
文献速递：边缘照明X射线相衬微米CT中体各向异性的自监督分辨率增强
2025新年伊始，来自荷兰莱顿大学高等计算机科学研究所的Jiayang Shi以第一作者的身份在“ Tomography of Materials and Structures” 发表了一篇名为：“ Self-supervised resolution enhancement for anisotropic volumes in edge illumination X-ray phase cont
2025-01-14 unistar
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![众星联恒年度回响-眼里有光，自向远方]()
众星联恒年度回响-眼里有光，自向远方
SUMMARY REPORT众星联恒2024年度回响回望总结期盼哪一个落到了你的心上?SUMMARY REPORT»内生“不确定的环境，确定的自我改变 ”真正的力量源自内部的创造力与自我驱动我们提供资源和支持培养创新文化搭建创新思维与创造力平台建立有利于创造性思考的工作环境鼓励追求挑战和自我表达创新不再是口号，它正在成为促进我们内生变化和发展的澎湃动力“Hackathon”众星联恒创新思潮»重构“
2025-01-09 unistar
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![EUV多层膜元件的反射率表征：从微观到宏观的极致优化]()
EUV多层膜元件的反射率表征：从微观到宏观的极致优化
点击蓝字 关注我们WINTER多层膜反射率表征背景介绍EUV多层膜元件是EUV光学系统的核心光学元件，通过周期性膜层结构设计可以在特定波长和入射角度条件下获得尽可能高的反射率。如图1是一片由德国optiX fab.制造的周期性Mo/Si多层膜反射镜在5°入射角条件下的反射率测试结果，对中心13.5nm波长的实测反射率可以达到65%以上，非常接近于理论光学极限。图1. Mo/Si多层膜反射镜在PTB
2025-04-07 unistar
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![The Devil is in the Details-多功能X射线光束测试卡的结构及使用方法]()
The Devil is in the Details-多功能X射线光束测试卡的结构及使用方法
点击蓝字，关注我们引言在探索微观世界的奥秘中，X射线以其独特的穿透力成为了科学家手中不可或缺的“探针”。在之前的文章我们介绍了各种调制X射线强度、相位及方向的方式，如下：不同的X射线光学组件，由于采用的作用机理不同，所以适用于不同的应用场景。在过去我们着重介绍了在衍射的X光聚焦元件i和基于折射原理的X光聚焦元件ii。i.详见文章: <X射线多层膜在静态和超快X射线衍射中的应用>ii.详
2025-01-09 unistar
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![晶体生长质量快速测试利器：X射线劳厄(Laue)实时晶体定向系统]()
晶体生长质量快速测试利器：X射线劳厄(Laue)实时晶体定向系统
点击蓝字 关注我们SUMMERPart 1.引言1895年，德国物理学家威廉·伦琴发现了X射线，揭开了科学研究的新篇章。随后在1912年，同来自德国的马克斯·冯·劳厄（Max von Laue）使用X射线照射晶体，首次观察到衍射图样，不仅验证了X射线是电磁波，还揭示了晶体内部的周期性结构。这一发现为X射线晶体学的发展奠定了基础，帮助科学家们打开了探索物质微观世界的大门，劳厄也因这一杰出的贡献于19
2025-01-09 unistar
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![基于PIN二极管的EUV / X射线探测器]()
基于PIN二极管的EUV / X射线探测器
点击蓝字 关注我们Rigaku xPIN计量探测器是一种基于PIN二极管的EUV / X射线探测器，具有紧凑灵活的设计，是实验室光源强度监测和光学对准的理想工具。适用于从实验室设备的校准和测试到光源强度的长期精确监测等各种应用，是任何EUV/X射线实验室不可缺少的理想专业工具。如图1所示，该探测器可用作手持式监视器或固定在光学台上，探测器有自己的长寿命内部电池，充电或供电操作可以通过标准USB电缆
2025-01-09 unistar
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![使用抗辐射聚合物制造的X射线折射光学元件（CRL）]()
使用抗辐射聚合物制造的X射线折射光学元件（CRL）
Author：Josephine Gutekunst1, Joachim Schulz12, Arndt Last21Microworks GmbH, Karlsruhe, Germany2 KIT / IMT, Karlsruhe, Germany一RefractionX射线折射 — 一项特殊的技术挑战与可见光不同，X 射线光子的短波长或高能量会导致与原子核附近的电子相互作用，而不是与原子之间的
2024-11-18 unistar
