真空紫外(VUV)分光光度计

真空紫外分光光度计 ultraLYZE VUV

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产品简介

ultraLYZE VUV 是一款高性能真空紫外(VUV)光谱测量系统,集透射与反射测量于一体,专为115–350 nm深紫外波段精密分析设计。采用全自动操作模式(turn-key),支持高真空(<10⁻⁶ mbar)或氮气吹扫环境,满足材料在极端条件下的光学特性表征需求,精度稳定优于0.3%,为科研与工业提供可靠数据支撑。


为何选择 ultraLYZE VUV?

  • 全波段覆盖

    115 nm起测,突破常规紫外限制,直达深紫外临界波段 

  • 工业级精度

    双光路校准技术实现<0.3%超稳重复性,适用于质检场景 

  • 环境适应性

    高真空/惰性气体双模式,应对VUV苛刻测量条件 

  • 模块化未来

    按需升级偏振、微区、自动化功能,保护设备投资价值

适用场景:光学镀膜实验室、半导体光刻研发中心、空间载荷研制单位、新型能源材料评估平台



关键规格参数

参数

指标

波长范围

115–350 nm

测量模式

透射(T)、反射(R)

测量精度

R/T < 0.3%

波长分辨率

优于0.1 nm

真空环境

<10⁻⁶ mbar 或 N₂吹扫

探测器

角度可调PMT(含参考光路)

可扩展模块

偏振器、聚焦光学、样品传递系统


核心结构与技术特点

模块

技术优势

VUV光源

氘灯光源,实现115-350 nm连续波长发射

VUV单色器

Seya-Namioka型光栅单色器,旋转光栅实现波长选择,针对100-300 nm波长具有非常高的衍射效率

双光路探测系统

角度可调PMT探测器 + 参考光路实时校准,确保R/T测量精度<0.3%

环境控制系统

高真空(<10⁻⁶ mbar)或氮气吹扫可选,消除氧气对VUV波长吸收及样品的表面污染

模块化扩展

偏振器:支持S/P偏振测量

测量光束聚焦:微区分析和样品mapping

样品传递系统:多样品切换


典型应用领域

  • 先进光学材料

    VUV抗反射膜、氟化镁(MgF₂)/氟化钙(CaF₂)透镜/窗片的透射率与反射损耗分析。

  • 半导体光刻技术

    光刻胶在DUV/VUV波段的吸收特性与均匀性评估(支持193 nm/157 nm关键波长)。

  • 空间科学与天文探测

    空间望远镜镜面涂层在Lyman-α(121 nm)等波段的反射性能验证。


探索物质深紫外响应的终极工具——从基础研究到产线质检,ultraLYZE VUV定义VUV光谱新标准。







关键规格参数

参数

指标

波长范围

115–350 nm

测量模式

透射(T)、反射(R)

测量精度

R/T < 0.3%

波长分辨率

优于0.1 nm

真空环境

<10⁻⁶ mbar 或 N₂吹扫

探测器

角度可调PMT(含参考光路)

可扩展模块

偏振器、聚焦光学、样品传递系统


核心结构与技术特点

模块

技术优势

VUV光源

氘灯光源,实现115-350 nm连续波长发射

VUV单色器

罗兰圆光栅单色器,选择光栅实现波长选择,针对100-300 nm波长具有非常高的衍射效率

双光路探测系统

角度可调PMT探测器 + 参考光路实时校准,确保R/T测量精度<0.3%

环境控制系统

高真空(<10⁻⁶ mbar)或氮气吹扫可选,消除氧气对VUV波长吸收及样品的表面污染

模块化扩展

偏振器:支持S/P偏振测量

测量光束聚焦:微区分析和样品mapping

样品传递系统:多样品切换




典型应用领域

  • 先进光学材料

    VUV抗反射膜、氟化镁(MgF₂)/氟化钙(CaF₂)透镜的透射率与反射损耗分析。

  • 半导体光刻技术

    光刻胶在EUV/VUV波段的吸收特性与均匀性评估(支持193 nm/157 nm关键波长)。

  • 空间科学与天文探测

    空间望远镜镜面涂层在Lyman-α(121 nm)等波段的反射性能验证。


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