硅漂移X射线探测器

硅漂移X射线探测器

适用于工业和实验室的X射线荧光分析等需要X射线能谱测量的应用

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XRS是一套完备的X射线能谱探测系统,非常适用于工业和实验室的X射线荧光分析等需要X射线能谱测量的应用。XRP是一款基本XRS的紧凑型版本,非常适合集成与手持设备和工业设备中。

主要特点:

◆有效探测面积:10-30 mm2

◆能量分辨率:125-129 eV FWHM @Mn-Ka,-30°

◆真空密封性:<0.01 mbar

◆窗口材料:BE,PTW(低能应用)


XRS-The XRF Detector System参数:

名称

有效面积

能量分辨率

峰背比@Mn_K

窗口材料

准直器

SDD-10-130-BeP Complete XRS

10

130 eV ± 3eV

4 500 ± 1 000

8 μm Be

3.2mm

SDDplus-10-128pnW-BeP Complete XRS

10

128 eV ± 3eV

7500 ± 2500

8 μm Be

3.2mm

SD3plus-10-125pnW-BeP Complete XRS

10

125 eV ± 3eV

15000 ± 5000

8 μm Be

3.1mm

SD3plus-10-125pnW-PTW Complete XRS

10

125 eV ± 3eV

15000 ± 5000

PTW - TP/LSplus/LTplus

3.1mm

SDDplus-30-128pnW-BeP Complete XRS

30

128 eV ± 3eV

12500 ± 2500

8 μm Be

5.8mm

XRP-The XRF Preamplifier Module参数:

名称

有效面积

能量分辨率

峰背比@Mn_K

窗口材料

准直器

SDD-10-130-BeP Complete XRP

10

130 eV ± 3eV

4500 ± 1000

8 μm Be

3.2mm

SDDplus-10-130p-BeP Complete XRP

10

128 eV ± 3eV

7500 ± 2500

8 μm Be

3.2mm

SDDplus-30-128-BeP Complete XRP

30

128 eV ± 3eV

12500 ± 2500

8 μm Be

5.8mm


典型应用:

  • X射线荧光分析

  • X射线能谱测量

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