XUV/VUV/X射线光谱仪

hardLIGHT TXS 中能X射线光谱仪

单次测量能谱可覆盖2到4kev

公司介绍

德国HP Spectroscopy公司成立于2012年,致力于为全球科研及工业领域的客户定制最佳解决方案,是科学仪器的全球供应商和领先开发商。产品线包括XAS系统,XUV/VUV/X-ray光谱仪,beamline产品等。主要团队由x射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline等领域的专家组成。并与全球领先的研究机构的科学家维持紧密合作,关注前沿技术,保持产品的迭代与创新。


产品简介

  • 单次测量能谱可覆盖2到4kev

  • 用于在线光束表征的背散射模式

  • 研究材料样品的X射线发射谱

  • 能量分辨率为0.3eV

  • 设备结构紧凑且可移动

TXS光谱仪可对HHG光束线,X射线自由电子激光和台式X射线激光进行准确的光诊断。单次测量能谱可覆盖2到4kev。

在具有高效率背向散射的von Hamos光路几何中,对于光束的在线表征,可实现对X射线光谱的指纹识别。 透射光束保持> 90%的透射率,可使进一步的实验不受透射光强的影响。

通过简单地将背散射探针与材料样品交换,hardLIGHT TXS即可用于X射线发射光谱(XES)。 中能X射线波段对许多材料的化学态都非常灵敏,如在电池研究中,2keV附近的硫光谱的精细结构可反映出重要的信息和线索。 

TXS光谱仪的定制设计需求是可讨论的。


 

北京众星联恒科技有限公司

硫的K边X射线吸收谱 (XAS)

中能X射线波段对许多材料的化学态都非常灵敏,如在电池研究中,2keV附近的硫光谱的精细结构可反映出重要的信息和线索。 

北京众星联恒科技有限公司

hardLIGHT: 通过高透射率散射探针和发射光谱进行

无干扰在线光束诊断



规格参数

Topology/类型

von Hamos

能量范围

2-4keV

光源距离

可根据用户实际光路灵活调整

探测器类型

CCD/MCP/CMOS/或根据需要混搭

   真空兼容度

<10-6mbar (UHV version available)

晶体定位

闭环电控台

滤光片插入单元

可选

数据接口

USB 或 Ethernet

软件

Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK

定制能力

可根据需求定制


应用

  •  高次谐波光源的光子诊断,

  • x射线自由电子激光,桌面x射线激光

  • 原位X射线发射谱测量


北京众星联恒科技有限公司HP-Spectroscopy_hardLIGHT中能X射线光谱仪_datasheet_2021-5-19.pdf

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