公司介绍

德国HP Spectroscopy公司成立于2012年，致力于为全球科研及工业领域的客户定制最佳解决方案，是科学仪器的全球供应商和领先开发商。产品线包括XAS系统，XUV/VUV/X-ray光谱仪，beamline产品等。主要团队由x射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline等领域的专家组成。并与全球领先的研究机构的科学家维持紧密合作，关注前沿技术，保持产品的迭代与创新。

产品简介

• 平场掠入射光谱仪

• 最佳光谱分辨率

• 波长范围为1 ~ 100nm

• 高效率无狭缝模式

在易用型平场校正光谱仪市场中，highLIGHT具有较高的光谱分辨率。单次测量覆盖宽光谱范围的同时，可获得优于等于0.006nm的光谱分辨率。同时，客户可以选择是否使用入射狭缝。

集成了狭缝架、滤波器插入装置、以及电动光栅定位设备的模块化设计特点，使其能够匹配不同的实验几何和构型。

灵活完善的探测器配置选项

• nXUV CCD——高分辨高动态范围应用

• nMCP/CMOS——宽光谱范围、门控或像增强探测需求

无缝设计

HPS公司专有的光谱仪设计使用光源直接成像技术。 因此，不需要狭窄的入口狭缝，并且可以最大程度地收集入射光束。 与传统的光谱仪相比，到达探测器的光强会高出20倍。 该结构还极大地提高了日常操作的稳定性。

测量结果

	利用highLIGHT XUV获得的倍频掺镱光纤激光系统(334kHz, 90uJ，<300fs)的第9次谐波和第11次谐波光谱。谐波带宽为约20 meV（半高全宽），对应的相对能量带宽为ΔE/E = 7.5E-4。 V. Hilbert et al, A compact, turnkey, narrow-bandwidth, tunable, and high-photon-flux extreme ultraviolet source AIP Advances 10, 045227 (2020)
	用highLIGHT SXR+在2.88nm（430eV，对应1s2-1s2p跃迁）处获得的氮谱线的发射谱测量结果。谱线的半高全宽是对应1.7个CCD像元尺寸（13μm像元），对应分辨能力为1890。该探测器的极限分辨能力可达3290。 data courtesy of Dr. K. Mann, Laser-Laboratorium Göttingen