XUV/VUV/X射线光谱仪

HighLIGHT 高分辨率平场XUV光谱仪

波长范围为1 ~ 100nm

  • 产地: 德国
  • 型号: HighLIGHT
  • 品牌: HP Spectroscopy

公司介绍

德国HP Spectroscopy公司成立于2012年,致力于为全球科研及工业领域的客户定制最佳解决方案,是科学仪器的全球供应商和领先开发商。产品线包括XAS系统,XUV/VUV/X-ray光谱仪,beamline产品等。主要团队由x射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline等领域的专家组成。并与全球领先的研究机构的科学家维持紧密合作,关注前沿技术,保持产品的迭代与创新。


产品简介

  • 平场掠入射光谱仪

  • 最佳光谱分辨率

  • 波长范围为1 ~ 100nm

  • 高效率无狭缝模式

在易用型平场校正光谱仪市场中,highLIGHT具有较高的光谱分辨率。单次测量覆盖宽光谱范围的同时,可获得优于等于0.006nm的光谱分辨率。同时,客户可以选择是否使用入射狭缝。

集成了狭缝架、滤波器插入装置、以及电动光栅定位设备的模块化设计特点,使其能够匹配不同的实验几何和构型。

灵活完善的探测器配置选项

  • nXUV CCD——高分辨高动态范围应用

  • nMCP/CMOS——宽光谱范围、门控或像增强探测需求

无缝设计

HPS公司专有的光谱仪设计使用光源直接成像技术。 因此,不需要狭窄的入口狭缝,并且可以最大程度地收集入射光束。 与传统的光谱仪相比,到达探测器的光强会高出20倍。 该结构还极大地提高了日常操作的稳定性。

北京众星联恒科技有限公司

北京众星联恒科技有限公司


测量结果

北京众星联恒科技有限公司

利用highLIGHT XUV获得的倍频掺镱光纤激光系统(334kHz, 90uJ,<300fs)的第9次谐波和第11次谐波光谱。谐波带宽为约20 meV(半高全宽),对应的相对能量带宽为ΔE/E = 7.5E-4。

V. Hilbert et al, A compact, turnkey, narrow-bandwidth, tunable,
and high-photon-flux extreme ultraviolet source

AIP Advances 10, 045227 (2020)

北京众星联恒科技有限公司

用highLIGHT SXR+在2.88nm(430eV,对应1s2-1s2p跃迁)处获得的氮谱线的发射谱测量结果。谱线的半高全宽是对应1.7个CCD像元尺寸(13μm像元),对应分辨能力为1890。该探测器的极限分辨能力可达3290。

data courtesy of Dr. K. Mann, Laser-Laboratorium Göttingen


规格参数

Topology类型

像差校正平场光谱仪

波长范围

1-100nm



光源距离

可根据用户实际光路灵活调整

探测器类型

CCD or MCP/CMOS


真空兼容度

<10-6mbar (UHV超高真空版可定制)


无狭缝技术



入射狭缝

可选



光栅定位

闭环电控台


滤光片插入装置



控制接口

  USB 或 Ethernet



软件

Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK

定制化

可根据需求定制


可选项

非磁性,旋转几何等



SXR+

SXR

XUV

波长范围

1-5nm

1-20nm

5-100nm

色散能力

0.06nm/mm

0.1-0.2nm/mm

0.2-0.7nm/mm

分辨率

<0.001nm

at 3nm

<0.005nm

at 10nm

<0.02nm

at 60nm


北京众星联恒科技有限公司HP-Spectroscopy_highLIGHT高分辨率平场XUV光谱仪_datasheet_2021-5-19.pdf

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