XUV/VUV/X射线光谱仪

maxLIGHT无狭缝平场XUV光谱仪和光束分析仪

公司介绍德国HP Spectroscopy公司成立于2012年,致力于为全球科研及工业领域的客户定制最佳解决方案,是科学仪器的全球供应商和领先开发商。产品线包括XAS系统,XUV/VUV/X-ray光谱仪,beamline产品等。主要团队由x射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline等领域的专家组成。并与全球领先的研究机构的科学家维持紧密合作,关注前沿技术,保持产品的迭代与创新。产品简介

  • 产地: 德国
  • 型号: maxLIGHT
  • 品牌: HP Spectroscopy

公司介绍

德国HP Spectroscopy公司成立于2012年,致力于为全球科研及工业领域的客户定制最佳解决方案,是科学仪器的全球供应商和领先开发商。产品线包括XAS系统,XUV/VUV/X-ray光谱仪,beamline产品等。主要团队由x射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline等领域的专家组成。并与全球领先的研究机构的科学家维持紧密合作,关注前沿技术,保持产品的迭代与创新。

产品简介

  • 摄谱仪和单色仪功能

  • 具有最佳效率的光栅

  • 波长范围为80 ~ 300nm

  • 高精度波长设置

  • 紧凑、模块化设计

得益于其无缝设计,maxLIGHT pro可提供同品类光谱仪中最大的集光量和最高的效率。经像差校正的平场波长范围可覆盖1nm至200nm的宽光谱带宽,比如,单个光栅可覆盖5-80nm。

其模块化设计能够匹配不同的实验配置。它具有集成的狭缝支架和滤光片插入单元,以及电动光栅定位。

灵活完善的探测器配置选项

nXUV CCD——高分辨高动态范围应用

MCP/CMOS——宽光谱范围、门控或像增强探测需求可根据用户要求进行定制

 

无缝设计

HPS公司专有的光谱仪设计使用光源直接成像技术。 因此,不需要狭窄的入口狭缝,并且可以最大程度地收集入射光。 与传统的光谱仪架构相比,到达探测器的光强会高出20倍。 该结构还极大地提高了日常操作的稳定性。

北京众星联恒科技有限公司

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测量结果

北京众星联恒科技有限公司

在使用阿秒XUV脉冲的符合光谱应用中,通过maxLIGHT XUV(左图)对HHG进行表征。

高次谐波源自单光子跃迁(蓝色箭头),而XUV和IR光的双光子跃迁则呈现为光电子谱的边带(右图)。

J. Vos et al, Orientation-dependent stereo Wigner time delay

and electron localization in a small molecule

Science 360 1326-1330 (2018)

北京众星联恒科技有限公司

通过maxLIGHT XUV测量的HHG光谱(右图)和25fs基频光脉冲在kagomé光子晶体光纤中宽化的光谱(左图)。随着泵浦能量的增加,孤子蓝移对HHG的影响清晰可见。

F. Tani et al, Continuously wavelength-tunable high harmonic generation via soliton dynamics

Opt. Lett. 42 1768-1771 (2017)

北京众星联恒科技有限公司

在相同的信号强度下,与标准光谱仪(虚线)相比,maxLIGHT pro光谱仪(实线)的分辨率明显更高。要获得等价的光谱分辨率,传统光谱仪技术需要设置窄狭缝,从而显著降低信号强度。

C. Hauri et al, High-Harmonic Radiation for seeding the

Swiss Free Electron Laser
Andor Learning (2016)

北京众星联恒科技有限公司

用maxLIGHT XUV获得的150kHz重频下截止区域内的HHG光谱。CEP的变化显示出在某些CEP设置下强度调制开始消失,表明了独立阿秒脉冲的存在。

M. Krebs et al, Towards isolated attosecond pulses at

megahertz repetition rates

Nature Photonics 7 555–559 (2013)

北京众星联恒科技有限公司

参考光谱示例证明了maxLIGHT光谱仪的分辨能力。如图所示为飞秒激光脉冲和固体靶相互作用后,经滤光片过滤后的高次谐波谱。谐波产生过程中所固有的精细结构谱可以被maxLIGHT光谱仪清晰地分辨出来。图片上半部分:由 X 射线 CCD 相机记录的原始图像。 图片下半部分:通过列合并获得的谐波谱。

L. Waldecker et al, Focusing of high order harmonics from solid density plasmas

Plasma Phys. Control. Fusion 53 124021 (2011)


技术参数

Topology类型

像差校正平场光谱仪和光束分析仪

波长范围

1-200nm



光源距离

可根据用户实际光路灵活调整

探测器类型

CCD or MCP/CMOS


真空兼容度

<10-6mbar(UHV超高真空版可定制)


无狭缝技术



入射狭缝

可调



光栅定位

闭环电控台


滤光片插入装置



控制接口

USB 或 Ethernet



软件

Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK

定制化

可根据需求定制



可选项

非磁性,旋转几何,偏振测量等


SXR

XUV

VUV

波长范围

1-20nm

5-80nm

40-200nm

色散能力

0.2-0.4nm/mm

0.5-1.3nm/mm

0.9-1.6nm/mm

分辨率

<0.015nm

at 10nm

<0.028nm

at 40nm

<0.05nm

at 120nm


应用

  • 高次谐波发生源

  • 阿秒科学

  • 激光与物质强烈的相互作用

  • 自由电子激光

  • 激光和放电产生的等离子体源

  • x射线激光

  • 激光驱动二次源


北京众星联恒科技有限公司HP-Spectroscopy_maxLIGHT无狭缝平场XUV光谱仪和光束分析仪_datasheet_2021-5-19.pdf


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