XUV二向色镜

XUV二向色镜

高次谐波实验中,将XUV与NIR分离需要高效率,高损伤阈值以及宽带宽的二向色镜。

  • 产地: 日本
  • 型号:
  • 品牌: NTT-AT

公司介绍:

NTT-AT有着多年的X射线、极紫外光学配件的研发与销售经验。在全球范围内,通过与众多来自同步辐射科学,阿秒科学,高强度物理学等领域的科学研究者开展紧密合作,积累了大量独特的设计与制造技术,其产品在业内享有很高的评价。NTT-AT提供的菲涅尔波带片有着高分辨率,高聚光效率等特点,适合被各种辐射光设施使用。另外,分辨率测试卡被当作业界的标准。不只是学术研究,在X射线的检查装置开发现场也被广泛使用。XUV镜片,XUV滤波片不仅对阿秒科学有着帮助,对下一代的光刻研究也有这重要作用。NTT-AT将在XUV,EUV, X线领域给予客户在研发上最大的帮助。

产品介绍:

高次谐波实验中,将XUVNIR分离需要高效率,高损伤阈值以及宽带宽的二向色镜。我们可根据你的目标能量,提供标准款或定制型XUV二向色镜。与Brewster角分光镜和薄膜滤光片相比,基于多介质AR涂层的二向色镜(DM)具有更高的伤害阈值。此外,这款镜片还能用于XUVNIR的光束组合。

标准款:

设计:             DM-30/800-2010

自动光学检查:78°

极化:              p

NIR反射率:    ~2%@800 nm+/- 50nm

XUV反射率:   ~45%@30nm

涂层:              介电质增强现实(AR)

衬底材料:       熔石英

尺寸:              直径2,最小厚度10mm

北京众星联恒科技有限公司北京众星联恒科技有限公司

设计:             DM-20/800-2010

自动光学检查:78°

极化:              p

NIR反射率:    ~2%@800 nm+/- 50nm

XUV反射率:   ~60%@20nm

涂层:              介电质增强现实(AR)

衬底材料:       熔石英

尺寸:              直径2″,厚度10mm


定制规格参数

自动光学检查75°-87°
极化s,p
减反射波长400 nm,800 nm,1000 nm,etc.
高反射波长3-5nm,13nm,30nm,60nm,etc.
基板材料熔石英
基板尺寸直径为1″-4″

*反射率随入射角、目标波长和极化变化而变化。



北京众星联恒科技有限公司NTT-AT 二向色镜 datasheet.2021.3.10.pdf


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