产品介绍：
根据布拉格定律，X射线会在晶体的晶格平面发生衍射，并满足以下公式。
2d sinθ = k λ
其中，
◆ λ是入射X射线光束的波长。
◆ θ被称为布拉格角，即满足上述布拉格公式时，X射线被晶体衍射时的角度。
◆ λ和θ两个参数通过晶面间的原子间距d，在物理上联系在了一起。一旦为特定的衍射选择了确定的晶体材料后，晶面间距d就确定了。
◆ 2d值则规定了该晶体能发生衍射的最长波长。
◆ 一般而言, 常用的布拉格角被限制在85°以内。
依据布拉格公式，X射线光学用晶体材料的选型原则如下：波长范围和布拉格角共同决定了2d值的选择；
材料能够耐受X射线束的通量和能量的能力；例如，有机晶体不能耐受高通量的X射线束，或反复的（较高通量的）X射线束曝光；当需要对其进行弯曲时，有足够的机械能力；晶体的衍射/反射能力；然后可以通过晶体的成本来确定最经济的选择。比如锗晶体的成本要高于硅晶体。
我司可以提供如下各种类型的平晶和弯晶，面型包括柱面、球面、抛物面、超环面和圆锥面等。
同时我司也可以提供德国Incoatec公司的基于多层膜的用于轻元素X射线荧光光谱的分析晶体，其主要特点如下：
◆ 用于XRF,全反射X射线荧光（TXRF）和电子探针微量分析（EPMA）
◆ 更低的轻元素检测限
◆ 更快的分析速度，分析铍、硼和碳时的性能提升30%
规格参数：
晶体类型 | 晶面指数 | 2d值(Å) | 晶体类型 | 晶面指数 | 2d值(Å) |
Quartz | 22-43 | 2.024 | Quratz | 10-10 | 8.514 |
Quartz | 20-23 | 2.749 | PET | 002 | 8.740 |
LiF | 220 | 2.848 | TAM | 020 | 8.780 |
Si | 220 | 3.840 | APD | 101 | 10.648 |
Ge | 220 | 4.000 | Beryl | 1010 | 15.950 |
LiF | 200 | 4.027 | TIAP | 001 | 25.900 |
Si | 111 | 6.271 | RbAP | 001 | 26.120 |
Ge | 111 | 6.532 | KAP | 001 | 26.640 |
Quartz | 10-11 | 6.684 | CsAP | 001 | 26.650 |
Incoatec 多层膜分析晶体：
晶体展示：
Ge 平晶
| Si 平晶
|
100μm RbAP
| Si Bent diced crystal Fi 100mm R=1m
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Si Johann 110 mm x 30 mm R 500 mm
| KAP超环面晶体
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Incoatec 多层膜分析晶体：
上图用Incoatec的 XS-B（红色）和以往某种分光晶体（蓝色）对硼元素进行XRF测量的结果比较
Incoatec分光晶体可显著改善检测下限。
分光晶体在市售XRF光谱仪上的测量结果
除此之外，Incoatec还能为特定应用领域开发专用镜片
XRF分析晶体 datasheet 2022.4.24.pdf