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众星论文速递:通过探测器校准来抑制 CT 环形伪影——从单色到多色 X 射线源

2026-04-15 16:07:22 unistar

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北京众星联恒科技有限公司

图1 发表文章封面截图

如上图1,近期来自澳大利亚莫纳什大学的研究小组刚刚发表了一篇,关于使用微焦点x射线源的相衬CT的新论文(Phys. Med. Biol. 71 (2026) 015011),该论文采用了众星联恒合作伙伴捷克Advacam的WidePIX混合光子计数X射线探测器


在之前的《XCT精通月刊》第四期深入探讨X射线计算机断层扫描伪影中介绍了射束硬化(Beam Hardening)、条状伪影(Streak Artefacts)、环状伪影(Ring Artefacts)和混叠(Aliasing)等影响图像质量的不利因素。其中具体介绍了各种伪影的来源及校正方法。


不同于通过在正弦图或重建层析图中识别这些伪影,然后将其去除(当试图可视化嵌入在强衰减材料中的弱衰减材料时,其中周围结构可能会干扰现有的校正方法,并且伪影可能会淹没感兴趣的特征),作者在2019年提出了一种基于通过同步辐射单色X射线来校正每个像素的探测器响应,以消除环状伪影。在本次研究中作者实验证明用于多色x射线源与CMOS平板探测器和WidePIX光子计数探测器的CT成像中仍是有效的。


尽管探测器响应存在能量依赖性,但该校准方法仍是一种简单而稳健的工具,可用于抑制吸收衬度和相位衬度 CT 中的计算机断层扫描(CT)环形伪影。此外,研究人员证明了即使环形伪影的水平低于散粒噪声,该算法依然有效。这使得它对于那些通过噪声抑制方式处理的数据(例如通过相位恢复实现的低剂量成像)特别有用。


校准方法核心思路


该校准方法主要沿用了 Croton 等人(2019)的方案(作者在之前的工作中提出了基础原型研发与并完成了单色光验证),并做了如下调整:


校准需要采集一系列在不同强度下的平场图像,以此标定探测器响应。整个过程无需特殊实验装置,只需将探测器直接置于光束路径中,不添加任何光学元件。


强度覆盖方式

在单色同步辐射下,是利用光束中心向外强度递减的特性,通过平移探测器穿过光束,让每个像素在图像序列中经历大范围的 X 射线强度。


在本研究使用的常规 X 射线管下,则无需移动部件,只需在图像采集过程中手动调节管电流 / 功率,即可实现强度范围的覆盖。


实验操作

  • 对平板探测器:在 20 W 到暗电流水平之间逐步增加管电流 / 功率,采集图像序列。

  • 对光子计数探测器-Wdiepix:在 35 W 到最低计数水平之间逐步增加管电流 / 功率,采集图像序列。

  • 为保守起见,每个校准序列采集了数百次曝光;事后分析表明,其实远更少的次数即可达到等效效果。


关键要求

校准所用的图像序列,其强度范围必须覆盖待校准 CT 图像序列的全部动态范围。若能覆盖到比 CT 序列更高的计数水平,校准效果会更佳。


最终呈现成像质量对比


如下图 2 对比了本文所述的探测器校准方法(使用WidePIX采集数据)与 Vo 等人(2018)实现的两种效果最优的方法:一种是基于条纹的滤波方法-FILTERING(算法 2),另一种是多种条纹去除算法的组合-ALL STRIPES(算法 3、4、5、6)。上述方法均通过 TomoPy 软件实现(Gürsoy 等人,2014)。

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图2

前两列为上述方法在同一断层切片上的处理结果,第三、四列为在另一块切片上的处理结果,该切片无法被任何方法完美校正。第一、三列标注为 “FAD”,表示断层图像仅经过标准平场校正与暗电流校正;第二、四列则在投影图像上额外进行了相位恢复处理。


图 2从上到下各行依次为采用不同校正方法的结果:无校正(UNCORRECTION)、仅使用探测器校准(CALIBRATION)、基于条纹的滤波算法(FILTERING)、条纹去除组合算法(ALL STRIPES)、先执行探测器校准再使用条纹去除组合算法(ALL STRIPES+CAL)。


第一、三列结果表明:对于未进行相位恢复、噪声更高的重建切片,正弦图条纹去除算法的效果略优于单独使用探测器校准。第二、四列则显示:对于经过相位恢复处理的数据,单独使用探测器校准,或在探测器校准之后再进行条纹去除,效果略好。


这一结果并不意外,因为相位恢复是一种平滑模糊处理,会将伪影扩散到多个像素上,使得滤波方法更难去除。如果在校正之后再进行相位恢复,条纹去除算法很可能效果更好;但这需要在相位恢复前对整叠图像的正弦图进行额外校正,会显著降低重建速度,且不在本文研究范围内。


本文所述方法的目的并非取代现有的环形伪影校正方法,而是作为第一步定量校准,甚至可以不再需要后续条纹去除方法,从而在不做其他改动的前提下实现 CT 体数据重建。这一目标并非总能实现,此时仍可配合使用其他方法。但本文结果表明:探测器校准单独使用,或与其他后处理方法联合使用,均能获得优异的校正效果。


结论


作者发现,将 Croton 等人(2019)提出的探测器校准算法应用于多色锥束 X 射线源所采集的数据时效果十分显著。利用作者提出的 RASP 图像质量指标定量评估表明,该算法可将环形伪影显著降低最高达 48%,尽管探测器量子效率与点扩散函数均存在能量依赖性。


若不进行暗电流偏移量 β(i,j) 以及本文省略的残差校正步骤,环形伪影抑制效果不足,则可根据需要轻松重新加入这些校正项,以适配其他探测器和 / 或射线源。我们发现,在常规 X 射线源上执行该校正比在同步辐射装置上更为简便。


当使用硬件组件固定的平板探测器时,校准也可以使用更长时间,不像基于透镜的系统,光学和闪烁体经常改变。该方法的使用并不排斥其他基于正弦图或重建后校正方案的应用,因此将本方法与其他方法结合使用有望获得进一步提升。


此外,该校准带来的改进不仅限于 CT 中的环形伪影抑制,还可作为改进型二维平场校正,在需要极高像素级精度的场景中尤其有用。作者已开发了用于执行该探测器校准的 Python 软件包,并在 GitHub 上开源(项目名:detector-calibration,下载地址:GitHub - physlin/detector-calibration: Pixel-by-pixel detector calibration for quantitative direct imaging and suppression of CT ring artefacts · GitHub )(Croton and McGovern 2021)。

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小编有话说

自1895年伦琴发现X射线,到1971年来及英国的戈弗雷·纽博尔德·亨斯菲尔德发明第一台CT至今,CT在医疗、制造业、安检等领域都起到了重要的重要。和CT相关的整个行业都得到充分的发展并形成了多个细分领域-如果X射线光源制造商、探测器制造商、CT重构软件提供商和系统集成商等。相应的基础研究旨在原理和原材料的突破,以或者更亮的光源,更快、更快的探测器及更为先进了迭代算法等,最终服务了当下先进半导体行业,新能源电池制造的精细和在线监测需求。


当下中国,整个行业发展极其迅速。为了更好的基础研究,数个四代同步辐射光源建设,相应的高空间(10nm以下),高时间分辨(高达MHZ)的X射线成像技术正在开发。


为了更好满足工业4.0的生产要求,相应的企业正在开发秒级的在线CT设备。


CMOS平板探测器由于其较大的靶面、较好的成像质量和相对低的成本在CT中得到的广泛的应用。但对于文中提到的对于生物组织的高衬度相衬成像,新能源电池需要的高速CT全检、航空航天轻材料的细微缺陷检测,人类血管等细微病灶的检测,基于同步辐射的高速、高分辨PTY成像等领域,混合光子计数X射线探测器由于超高的速度、高灵敏度和衬度分辨等能力而大放异彩。

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ADVACAM s.r.o.AdVisiones Technologies集团旗下一家专注于光子计数探测器研发与制造领域的子公司ADVACAM S.R.O.源至捷克技术大学实验及应用物理研究所,致力在多学科交叉业务领域提供硅传感器制造、微电子封装、辐射成像相机和X射线成像解决方案。ADVACAM最核心的技术特点是其X射线探制器(应用CERN Timepix、Medipix芯片),没有拼接缝隙(No Gap),因此在无损检测、生物医学、地质采矿、空间探测、艺术品鉴定及中子成像方面有极其突出的表现。ADVACAM与NASA(美国航空航天局)及ESA(欧洲航空航天局)保持长期良好的项目合作关系。2021年,spin off子公司Advascope专为电子显微镜EM应用提供定制化粒子探测系统。

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任何顶尖技术的价值最终实现,都离不开与本地化需求的深度咬合。这正是众星联恒扮演的关键角色。作为ADVACAM在中国及东南亚市场的长期战略伙伴与独家代理商,我们深刻理解,我们需要做的不仅仅是引进设备,更需要配备深度技术理解、工程集成、技术适配与持续的本地服务支持。同时,我们也在积极推广Timepix/Medipix芯片技术、ADVACAM光子计数X射线探测技术在中国市场的应用,目前已有众多客户将ADVACAM成功应用于空间辐射探测、X射线小角散射、X射线光谱学、X射线应力分析和X射线能谱成像等领域。我们非常欢迎对探测器感兴趣或基于探测器应用有新idea的老师联系我们,我们可以一起尝试做更多的事情。此外,我们也建立了强大的现货库存及X射线分析平台,可为相关研究提供支持。


请联系我们,即可开始探索未知之旅。

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内容:凯文

审核:凯文

编辑:Sylvia

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