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    织构分析

    • 品牌IµS
    • 型号/
    • 产地德国

    使用IµS进行织构测量           Cu-Kα辐射IµS集成与 Bruker AXS GADDS系统,该系统还包含Eulerian cradle与VÅNTEC2000面探测器,以用于YBCO基体中的BaHfO3纳米颗粒的织构测量。在约50分钟内(含所有机械移动与读出时间),此系统可记录gamma范围至65°的极相图。

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    2. 技术参数
    3. 应用案例
    4. 资料/文献


    使用IµS进行织构测量


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            Cu-Kα辐射IµS集成与 Bruker AXS GADDS系统,该系统还包含Eulerian cradleVÅNTEC2000面探测器,以用于YBCO基体中的BaHfO3纳米颗粒的织构测量。在约50分钟内(含所有机械移动与读出时间),此系统可记录gamma范围至65°的极相图。


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