北京众星联恒科技有限公司

网站首页 > 应用及方案 > 产品应用 > x射线源

    基于自组装金纳米粒子应变实时小角散射研究

    • 品牌Excillum
    • 型号
    • 产地

    背景:由于小角散射对电子密度的不均匀性特别敏感,凡是存在纳米尺度的电子不均匀区域的物质均会产生小角散射现象,使其成为该尺度(几纳米到一百纳米)物质结构的重要而理想的工具之一。核心部件:光源:Liquid-Metal-Jet (Excillum),Ga靶Kα辐射;镜片:Montel Optics (Incoatec);针孔:Scaterless Pinholes (Incoatec);探测器:Van

    1. 基本信息
    2. 技术参数
    3. 应用案例
    4. 资料/文献

    背景:

    由于小角散射对电子密度的不均匀性特别敏感,凡是存在纳米尺度的电子不均匀区域的物质均会产生小角散射现象,使其成为该尺度(几纳米到一百纳米)物质结构的重要而理想的工具之一。

    核心部件:

    光源:Liquid-Metal-Jet (Excillum),Ga靶Kα辐射;

    镜片:Montel Optics (Incoatec);

    针孔:Scaterless Pinholes (Incoatec);

    探测器:Vantec-2000 (Bruker AXS)

     

    2-1.png 1-1.png

    图1 SAXS和GISAXS 实验方案示意图

    1519966061246163.png

    图2 搭配Excillum液态金属流微焦源的Nanostar

     

    实验结果:

    4

    图3 正己烷中分散的胶体金纳米粒子的 (a) 小角散射图样和 (b) 平均径向强度分布图

    5

    图4 单层金纳米粒子沉积在硅基体上的 (a) 掠入射小角图样和 (b) qy=0.7nm-1时水平截面

    6

    图5 (a) 在未拉伸的聚酯薄膜上单层金纳米粒子小角散射图样 (b) 在拉伸18%的聚酯薄膜上单层金纳米粒子的小角散射图样

     

    小结:该方案实现了通过小角散射(SAXS)和掠入射小角散射(GISAXS)的方式在纳米尺度的过程进行原位监测。


    Powered by MetInfo 5.3.19 ©2008-2018 www.MetInfo.cn