基于自组装金纳米粒子应变实时小角散射研究

背景：

由于小角散射对电子密度的不均匀性特别敏感，凡是存在纳米尺度的电子不均匀区域的物质均会产生小角散射现象，使其成为该尺度（几纳米到一百纳米）物质结构的重要而理想的工具之一。

核心部件：

光源：Liquid-Metal-Jet (Excillum),Ga靶Kα辐射;

镜片：Montel Optics (Incoatec);

针孔：Scaterless Pinholes (Incoatec);

探测器：Vantec-2000 (Bruker AXS)

图1 SAXS和GISAXS 实验方案示意图

图2 搭配Excillum液态金属流微焦源的Nanostar

实验结果：

图3 正己烷中分散的胶体金纳米粒子的 (a) 小角散射图样和 (b) 平均径向强度分布图

图4 单层金纳米粒子沉积在硅基体上的 (a) 掠入射小角图样和 (b) qy=0.7nm-1时水平截面

图5 (a) 在未拉伸的聚酯薄膜上单层金纳米粒子小角散射图样 (b) 在拉伸18%的聚酯薄膜上单层金纳米粒子的小角散射图样

小结：该方案实现了通过小角散射(SAXS)和掠入射小角散射(GISAXS)的方式在纳米尺度的过程进行原位监测。