X射线源

基于自组装金纳米粒子应变实时小角散射

2020-02-21 10:03:53 30
  • 相关产品:Incoatec

背景:

由于小角散射对电子密度的不均匀性特别敏感,凡是存在纳米尺度的电子不均匀区域的物质均会产生小角散射现象,使其成为该尺度(几纳米到一百纳米)物质结构的重要而理想的工具之一。

核心部件:

光源:Liquid-Metal-Jet (Excillum),Ga靶Kα辐射;

镜片:Montel Optics (Incoatec);

针孔:Scaterless Pinholes (Incoatec);

探测器:Vantec-2000 (Bruker AXS)

 

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图1 SAXS和GISAXS 实验方案示意图

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图2 搭配Excillum液态金属流微焦源的Nanostar

 实验结果:

4

图3 正己烷中分散的胶体金纳米粒子的 (a) 小角散射图样和 (b) 平均径向强度分布图

5

图4 单层金纳米粒子沉积在硅基体上的 (a) 掠入射小角图样和 (b) qy=0.7nm-1时水平截面

6

图5 (a) 在未拉伸的聚酯薄膜上单层金纳米粒子小角散射图样 (b) 在拉伸18%的聚酯薄膜上单层金纳米粒子的小角散射图样

小结:

该方案实现了通过小角散射(SAXS)和掠入射小角散射(GISAXS)的方式在纳米尺度的过程进行原位监测。


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