空间分辨率是 CT 图像质量的两项重要性能指标，其测试工作也是 CT 设备性能测试的重要内容。线对卡法，是使用线对测试卡直接测试空间分辨率，由于操作方便、简捷而被广泛用于实际工业 CT 空间分辨率的测试中。

众星联恒可提供各种类型的X射线分辨率测试卡/评估图，它是X射线成像系统质量控制和性能评估的理想工具。图案类型包括线对、孔阵列和西门子星等。最小图案尺寸低至10nm，面对高达~300kV及跟高的高分辨X射线应用，我们可以提供厚达4μm的金吸收体，以满足高能、高分辨的X射线成像系统的测试需求。

同时我们还可以提供：

用于纳米CT体素校准的模体- Voxel-spirit 可实现快速和直观的体素大小校准，Voxel-spirit 甚至可以满足严格的视场 (FOV) 限制和高精度要求。
遵从ASTM E1695-95的Resolution-spirit 通用模体组，适用于纳米CT和微米CT的三维空间分辨精密评估。它适用于可变视场限制及高精度的需求。
带有用于 nanoCT 和 microCT 测量的基准标记的样品架-R1-Shadow，可以快速直观地校正旋转台的不准确性和 CT 数据配准，适用于双能量 CT 或 4D CT 等应用。 R1-Shadow 是一种多用途解决方案，适合可变视场 (FOV) 限制和高精度要求。

类型	图案布局	图案规格	吸收体类型及厚度
混合纳米分辨率测卡（点击查看详情）		最小细节10nm	100nm Ir，或者更高的Au
3D西门子星分辨测试卡（点击查看详情）		最小细节小于200nm	结构高度200µm尺寸Fhi 100µm
显微CT分辨测试卡（点击查看详情）		布局由嵌套的L形组成，线宽为: 50 –40 –30 –20 –15 –10 –9 –8 –7 -6 -5 –4 –3 -2 –1.5 -1 –0.9 -0.8 -0.7 –0.6 -0.5 –0.4 /0.3 /0.2 /0.1（微米）
Yxlon标准微米分辨率测试卡（点击查看详情））		5.0, 4.0, 3.2, 2.5, 2.0, 1.6, 1.3, 1.0, 0.9, 0.8, 0.7, 0.6, 0.5, 0.45, 0.4, 0.35, 0.3 µm线对	3 µm高金
方孔/狭缝图案多功能分辨率测试卡（点击查看详情））		外部尺寸: 1 x 1 cm²包括 23 个方形开口（红色方框A内，5x5 µm² ~ 1000x1000 µm²）以及左上角的两个矩形狭缝结构（红色方框B内）基底: 2.5 µm Ti （如有需要，可去除部分）	厚度25 µm 金
NanoXSpot分辨率测试卡（EN13543 -6 and -4/-7标准，测试微纳射线源焦点尺寸）（点击查看详情））		4象限区域，每个区域4 mm x 4 mm，含两个改良的西门子星，孔阵列（最小孔径5微米），7组有不同方向的线对（12 µm, 10 µm, 8 µm, 6 µm, 5 µm, 4 µm, and 3 µm）	8 µm高金
紧凑型可旋转X射线分辨率靶（点击查看详情）		线宽/线空间0.7, 0.8, 0.9, 1.0, 2.0, 3.0, 4.0, 5.0, 6.0, 7.0 µm
微纳CT分辨率测试模体（点击查看详情）		球直径: 0.5, 1.0, 2.5, 5.0mm< 1 μm to > 10 μm 体素尺寸CT应用遵从 ASTM E1695-95 标准	红宝石
纳米CT体素校准模体（点击查看详情）		球直径: 0.3 mm球距离: 0.45 mm (认证精度: 0.06 μm)<1 μm 体素CT应用	红宝石
微纳CT转台摆动校正样品架（点击查看详情）		基准尺寸 [µm]: 25 25 50 100适用于 Dual-Energy CT or 4D CT	红宝石