XRN显微CT分辨率测试卡（0.2-50μm）-现货有售
X射线分辨率测试卡是测量成像系统成像质量的重要工具，我司可提供各种类型的测试卡以满足您的各种需求。图案类型包括线对、孔阵列和西门子星等。
产品介绍
空间分辨率是 CT 图像质量的一项重要性能指标，其测试工作也是 CT 设备性能测试的重要内容。线对卡法，是使用线对测试卡直接测试空间分辨率，由于操作方便、简捷而被广泛用于 实际工业 CT 空间分辨率的测试中。
新一代显微CT分辨率测试卡：提升您的 X 射线成像体验！我们尖端的测试卡通过融合现代微纳米制造技术（包括顶级电子束光刻技术）精心设计、制造而成。创新的测试图案展示了从 50μm 到 200nm 的线条和空间，以及西门子星图形。我们的标准产品旨在超越预期。对于寻求量身定制解决方案的客户，我们还提供完全可定制的选项。
两种布局图可选
出厂深度的SEM测试示例：
通用参数
资料文献
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高分辨率原位计算机断层扫描（CT）在（亚）微米范围的应用通常仅在同步辐射设施中可行，因为在采用锥束源的实验室CT中部署传统加载台无法实现相应的几何放大。本文介绍了一种具有新颖原位概念的CT系统，可实现低至0.5微米的空间分辨率，能够分析弱吸收材料，并在测量过程中对样品施加高达5千牛的压缩和拉伸载荷。由于需要在接近理论极限的放大倍率下确保测量成功，对高精度机械设计的要求使得该系统开发尤为艰巨。文中介绍了所采用的组件以及必要的考虑因素和方法。结果表明，该系统在精度和质量方面达到了预期指标。对纤维增强聚合物的实验结果表明，该系统能够检测到小于单根纤维直径的基体损伤特征，从而凸显了其在传统实验室CT不足且同步辐射机时受限的材料科学应用中的潜力。
高分辨率X射线断层扫描是利用同步辐射源进行生物医学研究的常用技术。随着实验室X射线光源的进步，越来越多的实验可以在实验室中进行。本文介绍了一种实验室X射线纳米计算机断层扫描装置的设计、实现与验证，该装置使用纳米焦点X射线源和高几何放大倍率，无需任何光学元件。将基于闪烁体的探测器与光子计数探测器进行比较，结果表明，在X射线源通量有限且样品对比度低的应用中，使用光子计数探测器具有明显优势。利用传播相位对比增强了样品对比度。通过二维分辨率测试卡以及对重建CT切片进行傅里叶环相关分析，验证了系统的分辨率。评估噪声和对比度凸显了光子计数探测器的优势以及相位对比带来的对比度提升。所实现的装置能够达到亚微米分辨率，并在生物样品（如石蜡包埋组织）中满足对比度要求。
品牌介绍
XRnanotech是一家源自瑞士保罗谢勒研究所（Paul Scherrer Institut）超过十余年前沿研究与开发成果的高科技企业，于2020年正式成立，致力于将纳米光学领域的突破性创新推向产业化应用。其中德国Mciroworks公司是XRnanotech的子公司，非常擅长使用LIGA技术，制造高深宽比微纳结构。
公司愿景是赋能全球光学仪器，使其充分发挥性能潜力，突破现有技术边界；使命则专注于开发与制造最高水平的纳米光学器件，在分辨率、效率、稳定性与结构设计等关键指标上实现极致优化。
其产品线包括：极紫外、X射线菲涅耳波带片、X射线相衬光栅、金刚石光学器件、X射线微纳米分辨率测试卡、超透镜和中子光栅等，应用领域涵盖X射线科学研究、材料分析、医学成像等多个前沿方向。凭借独特的 Ir-线倍增技术，XRnanotech 可以制造分辨率可低至<10nm的菲涅耳波带片，并提供各种材料，如金，镍，硅（二氧化硅），铱，铬甚至金刚石。
众星联恒作为瑞士XRnanotech公司中国区的独家代理，为中国用户提供所有售前咨询，销售及售后服务。同时，众星联恒作为一家前沿EUV-X射线领域服务及解决方案提供商，目前已储备一定规模的EUV与X射线相关设备与核心部件库存，具备快速交付能力，以更好地服务我们的用户。同时我们创建了设施完善的X射线开放实验室，配备了多套先进的X射线光源系统、光学元件以及探测器，可支持包括X射线成像、相衬成像、衍射分析、荧光检测以及X射线源性能表征在内的多样化的测试、预研和论证工作。
我们是一支对于极紫外、X射线技术充满热情的团队，如果你有任何疑问想要和我们交流、探讨，不要犹豫，请直接联系我们。
