13.5nm 极紫外透、反射测试图案

对于微曝光工具性能测试或缺陷检测技术(PTY显微成像、基于施瓦茨谢尔德物镜的显微成像技术等)能力验证,我们基于多年的经验和强大的高精度微纳结构加工及镀膜能力,我司可以提供多种类型极紫外(EUV)测试图案。

产品介绍

对于微曝光工具性能测试或缺陷检测技术(CDI、PTY和极紫外全场显微技术等)能力验证,我们基于多年的经验和强大的高精度微纳结构加工及镀膜能力,我司可以提供多种类型极紫外(EUV)测试图案。

规格参数

1)基于纳米透射光栅类透射测试结构


2) 在极紫外多层膜上制作HSQ或金属吸收体微纳图案




3)在HSQ或金属吸收体微纳图案上沉积极紫外多层膜


资料文献

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02
Rajeev, Rajendran, et al.SPIE2018

optiXfab为瑞士同步辐射的反射模式的EUV掩模扫描无透镜成像显微镜(RESCAN)的测试样品提供了镀膜服务,该样品为在图案化的硅片上镀制了Mo/Si读出多层膜,然后使用的电子束光刻技术在多层膜上面制作的图案化的SiO2吸收体。

关于众星联恒和optiX fab

德国optiX fab是Fraunhofer IOF孵化的衍生公司,成立于2013年,旨在商业化Fraunhofer IOF的XUV/软、硬X光学器件的研究和开发活动,致力于设计,开发和制造各类多层膜镜。optiXfab已经为全球高端制造商以及研究所、大学、同步辐射客户提供定制的用于XUV/软、硬X光光谱范围内的多层膜和掠入射光学器件。众星联恒联合optiXfab,为中国用户提供所有售前咨询,销售及售后服务。同时,众星联恒作为一家前沿EUV-X射线领域服务及解决方案提供商,目前已储备一定规模的EUV与X射线相关设备与核心部件库存,具备快速交付能力,以更好地服务我们的用户。同时我们创建了设施完善的X射线开放实验室,配备了多套先进的X射线光源系统、光学元件以及探测器,可支持包括X射线成像、相衬成像、衍射分析、荧光检测以及X射线源性能表征在内的多样化的测试、预研和论证工作。

我们是一支对于极紫外、X射线技术充满热情的团队,如果你有任何疑问想要和我们交流、探讨,不要犹豫,请直接联系我们。

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