XUV、IR二向色镜
高次谐波实验中，将XUV与NIR分离需要高效率，高损伤阈值以及宽带宽的二向色镜。我们可根据你的目标能量，提供标准款或定制型XUV二向色镜。与Brewster角分光镜和薄膜滤光片相比，基于多介质AR涂层的二向色镜（DM）具有更高的伤害阈值。此外，这款镜片还能用于XUV和NIR的光束耦合。
产品介绍
标准款：
| 设计1 入射角：78° 偏振： p NIR反射率： ~2%@800 nm+/- 50nm XUV反射率： ~45%@30nm 涂层： AR介质减反膜 衬底材料： 熔融石英 尺寸： 直径2″，厚度10mm |
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| 设计2 入射角：78° 偏振： p NIR反射率： ~2%@800 nm+/- 50nm XUV反射率： ~60%@20nm 涂层： AR介质减反透膜 衬底材料： 熔融石英 尺寸： 直径2″，厚度10mm |
定制规格参数
| 熔融入射角 | 75°-87° |
| 偏振 | s,p |
| 减反射波长 | 400 nm,800 nm,1000 nm,etc. |
| 高反射波长 | 3-5nm,13nm,30nm,60nm,etc. |
| 基底材料 | 熔石英 |
| 基板尺寸 | 直径为1″-4″ |
*反射率随入射角、目标波长和偏振变化而变化。
关于众星联恒
众星联恒作为一家前沿极紫外、X射线领域服务及解决方案提供商，目前已储备一定规模的EUV与X射线相关设备与核心部件库存，具备快速交付能力，以更好地服务我们的用户。同时我们创建了设施完善的X射线开放实验室，配备了多套先进的X射线光源系统、光学元件以及探测器，可支持包括X射线成像、相衬成像、衍射分析、荧光检测以及X射线源性能表征在内的多样化的测试、预研和论证工作。
我们是一支对于极紫外、X射线技术充满热情的团队，如果你有任何疑问想要和我们交流、探讨，不要犹豫，请直接联系我们。
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