金刚石X射线菲涅尔波带片

金刚石波带片专为 XFEL 的高热负载应用而设计,其允许焦点处的峰值功率密度为 4E17 W/cm2。

产品介绍

XRnanotech介绍

XRnanotech是瑞士知名的Paul Scherrer Institute研究所10多年研发的结晶,于2020年成立,旨在将最新的突破性X射线光学创新引入市场。瑞士XRnanotech专注于研究纳米结构,开发和制造最具创新性的X射线光学器件,以实现最高分辨率、效率、稳定性和设计质量。产品线包括菲涅耳波带片、纳米级光栅、金刚石光学器件、纳米分辨率测试卡、3D分辨率测试卡等。XRnanotech 制造的菲涅耳波带片分辨率可低至<10nm,凭借独特的 Ir-线倍增技术,可以获得精确到 5nm 的 X 射线束聚焦,这使得 XRnanotech 成为 X 射线透镜世界纪录保持者。

产品介绍

金刚石波带片专为 XFEL 的高热负载应用而设计,其允许焦点处的峰值功率密度为 4x1017 W/cm2。


参数典型值能力极限
波带片最外环宽度 [nm]10050
波带片直径 [μm]100-250>2500

金,硅及金刚石三种材料的材料特性对比

材料原子序数密度[g cm-3]熔点[˚C]热导率[Wm K)10 keV下π相移的厚度[µm]
金, Au7919.310643102.07
硅, Si142.33141015012.67
金刚石, C63.52> 200022008.52

可以看到得益于金刚石良好的热导率、低的X射线吸收和高熔点,其非常适合如XFEL 的高热负载应用。

如下是在FEL下测试金波带片的辐照损伤:

100nm最外环宽度波带片金在LCLS,8KeV,1mJ,60HZ脉冲辐照测试前SEM图像

100nm最外环宽度波带片金在LCLS,8KeV,1mJ,60HZ脉冲辐照测试1000发后SEM图像


100nm最外环宽度波带片金在LCLS,8KeV,1mJ,60HZ脉冲辐照测试10000发后SEM图像



规格参数

参数典型值能力极限
波带片最外环宽度 [nm]10050
波带片直径 [μm]100-250



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