产品介绍
- 单次测量能谱可覆盖2到4kev
- 用于在线光束表征的背散射模式
- 研究材料样品的X射线发射谱
- 能量分辨率为0.3eV
- 设备结构紧凑且可移动
TXS光谱仪可对HHG光束线，X射线自由电子激光和台式X射线激光进行准确的光诊断。单次测量能谱可覆盖2到4kev。
在具有高效率背向散射的von Hamos光路几何中，对于光束的在线表征，可实现对X射线光谱的指纹识别。 透射光束保持> 90％的透射率，可使进一步的实验不受透射光强的影响。
通过简单地将背散射探针与材料样品交换，hardLIGHT TXS即可用于X射线发射光谱（XES）。 中能X射线波段对许多材料的化学态都非常灵敏，如在电池研究中，2keV附近的硫光谱的精细结构可反映出重要的信息和线索。
TXS光谱仪的定制设计需求是可讨论的。
 硫的K边X射线吸收谱 (XAS)中能X射线波段对许多材料的化学态都非常灵敏，如在电池研究中，2keV附近的硫光谱的精细结构可反映出重要的信息和线索。 |  hardLIGHT: 通过高透射率散射探针和发射光谱进行无干扰在线光束诊断 |
规格参数
| Topology/类型 | von Hamos |
| 能量范围 | 2-4keV |
| 光源距离 | 可根据用户实际光路灵活调整 |
| 探测器类型 | CCD/MCP/CMOS/或根据需要混搭 |
| 真空兼容度 | <10-6mbar (UHV version available) |
| 晶体定位 | 闭环电控台 |
| 滤光片插入单元 | 可选 |
| 数据接口 | USB 或 Ethernet |
| 软件 | Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK |
| 定制能力 | 可根据需求定制 |
典型应用
- 高次谐波光源的光子诊断，
- x射线自由电子激光，桌面x射线激光
- 原位X射线发射谱测量
公司介绍
德国HP Spectroscopy公司成立于2012年，致力于为全球科研及工业领域的客户定制最佳解决方案，是科学仪器的全球供应商和领先开发商。产品线包括XAS系统，XUV/VUV/X-ray光谱仪，beamline产品等。主要团队由x射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline等领域的专家组成。并与全球领先的研究机构的科学家维持紧密合作，关注前沿技术，保持产品的迭代与创新。
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