产品介绍
easyLIGHT XUV以前所未有的效率提供宽带光谱测量。 无狭缝设计直接对辐射源成像，从而消除了繁琐的入口狭缝。 30至250nm的光谱范围方便地涵盖了HHG和等离子体诊断中的许多应用。 与掠入射光谱仪相比，easyLIGHT XUV的垂直入射设计可提供简单的安装和对准。 模块化设计与各种实验几何形状和配置相匹配。 easyLIGHT具有集成的狭缝固定器和闭环电动光栅定位功能。
探测器可选类型：
- VUV CCD相机具有最高的分辨率和动态范围
- MCP、CMOS探测器具有最宽的波长覆盖范围和门控及增强探测器能力
基于easyLIGHT光谱仪的定制设计可讨论
特征优势
1平场、垂直入射光谱仪
2专有的无狭缝设计以保证最高效率
3波长范围30 ~ 250 nm
4同品类中最紧凑的光谱仪
5模块化、成套设计
规格参数
无狭缝设计
HPS公司专有的光谱仪设计可用于直接源成像。 因此，不需要狭窄的入口狭缝，并且可以最大程度地收集入射光。 与传统的光谱仪架构相比，到达探测器的光强会高出20倍。 该结构还极大地提高了日常操作的稳定性。
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规格参数
| Topology/类型 | aberration-corrected flat-field spectrometer像差校正平场入射光谱仪 |
| 波长范围 | 30-250nm |
| 光源距离 | 可根据用户实际光路灵活调整 |
| 探测器类型 | CCD /MCP/CMOS |
| 真空兼容度 | <10-6mbar (UHV超高真空版本可定制) |
| 无狭缝技术 | 含 |
| 输入狭缝 | 可选 |
| 光栅定位 | 闭环电控台 |
| 滤光片插入单元 | 含 |
| 数据接口 | USB or Ethernet |
| 软件 | Windows UI / Labview, VB, C, C++ SDK |
| 定制能力 | 可根据需求定制 |
| 其余可选项 | 非磁性，旋转几何等 |
| 色散能力 | ~2.0nm/mm |
| 分辨率 | <0.1nm |
| 平场面物理尺寸 | 75mm |
| 偏差角 | 94° |
典型应用
- 高次谐波光源
- 阿秒科学
- 强激光与物质相互作用
- 激光和放电产生等离子体源
- 同步辐射光束表征
- 自由电子激光
HP Spectroscopy
德国HP Spectroscopy公司成立于2012年，致力于为全球科研及工业领域的客户定制最佳解决方案，是科学仪器的全球供应商和领先开发商。产品线包括XAS系统，XUV/VUV/X-ray光谱仪，beamline产品等。主要团队由x射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline等领域的专家组成。并与全球领先的研究机构的科学家维持紧密合作，关注前沿技术，保持产品的迭代与创新。
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