产品选型系统及光谱仪XUV/VUV/X 射线光谱仪maxLIGHT无狭缝平场XUV光谱仪和光束分析仪

maxLIGHT无狭缝平场XUV光谱仪和光束分析仪

极紫外13.5nm波段优化

德国

型号: maxLIGHT
品牌: HP Spectroscopy

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产品介绍

  • 摄谱仪和单色仪功能
  • 具有最佳效率的光栅
  • 波长范围为1 ~ 200nm
  • 高精度波长设置
  • 紧凑、模块化设计

得益于其无缝设计,maxLIGHT pro可提供同品类光谱仪中最大的集光量和最高的效率。经像差校正的平场波长范围可覆盖1nm至200nm的宽光谱带宽,比如,单个光栅可覆盖5-80nm。

其模块化设计能够匹配不同的实验配置。它具有集成的狭缝支架和滤光片插入单元,以及电动光栅定位。

灵活完善的探测器配置选项

nXUV CCD——高分辨高动态范围应用

MCP/CMOS——宽光谱范围、门控或像增强探测需求可根据用户要求进行定制

无狭缝设计

HPS公司专有的光谱仪设计使用光源直接成像技术。 因此,不需要狭窄的入口狭缝,并且可以最大程度地收集入射光。 与传统的光谱仪架构相比,到达探测器的光强会高出20倍。 该结构还极大地提高了日常操作的稳定性。

测量结果

在使用阿秒XUV脉冲的符合光谱应用中,通过maxLIGHT XUV(左图)对HHG进行表征。高次谐波源自单光子跃迁(蓝色箭头),而XUV和IR光的双光子跃迁则呈现为光电子谱的边带(右图)。

J. Vos et al, Orientation-dependent stereo Wigner time delayand electron localization in a small molecule
Science 360 1326-1330 (2018)
通过maxLIGHT XUV测量的HHG光谱(右图)和25fs基频光脉冲在kagomé光子晶体光纤中宽化的光谱(左图)。随着泵浦能量的增加,孤子蓝移对HHG的影响清晰可见。

F. Tani et al, Continuously wavelength-tunable high harmonic generation via soliton dynamics
Opt. Lett. 42 1768-1771 (2017)
在相同的信号强度下,与标准光谱仪(虚线)相比,maxLIGHT pro光谱仪(实线)的分辨率明显更高。要获得等价的光谱分辨率,传统光谱仪技术需要设置窄狭缝,从而显著降低信号强度。

C. Hauri et al, High-Harmonic Radiation for seeding theSwiss Free Electron Laser
Andor Learning (2016)
用maxLIGHT XUV获得的150kHz重频下截止区域内的HHG光谱。CEP的变化显示出在某些CEP设置下强度调制开始消失,表明了独立阿秒脉冲的存在。

M. Krebs et al, Towards isolated attosecond pulses atmegahertz repetition rates
Nature Photonics 7 555–559 (2013)
参考光谱示例证明了maxLIGHT光谱仪的分辨能力。如图所示为飞秒激光脉冲和固体靶相互作用后,经滤光片过滤后的高次谐波谱。谐波产生过程中所固有的精细结构谱可以被maxLIGHT光谱仪清晰地分辨出来。图片上半部分:由 X 射线 CCD 相机记录的原始图像。 图片下半部分:通过列合并获得的谐波谱。
L. Waldecker et al, Focusing of high order harmonics from solid density plasmas
Plasma Phys. Control. Fusion 53 124021 (2011)


规格参数

Topology类型像差校正平场光谱仪和光束分析仪
波长范围1-200nm
光源距离可根据用户实际光路灵活调整
探测器类型CCD or MCP/CMOS
真空兼容度<10-6mbar(UHV超高真空版可定制)
无狭缝技术含
入射狭缝可调
光栅定位闭环电控台
滤光片插入装置含
控制接口USB 或 Ethernet
软件Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK
定制化可根据需求定制
可选项非磁性,旋转几何,偏振测量等


SXRXUVVUV
波长范围1-20nm5-80nm40-200nm
色散能力0.2-0.4nm/mm0.5-1.3nm/mm0.9-1.6nm/mm
分辨率<0.015nm at 10nm<0.028nm at 40nm<0.05nm at 120nm


典型应用

  • 高次谐波发生源
  • 阿秒科学
  • 激光与物质强烈的相互作用
  • 自由电子激光
  • 激光和放电产生的等离子体源
  • x射线激光
  • 激光驱动二次源

公司介绍

德国HP Spectroscopy公司成立于2012年,致力于为全球科研及工业领域的客户定制最佳解决方案,是科学仪器的全球供应商和领先开发商。产品线包括XAS系统,XUV/VUV/X-ray光谱仪,beamline产品等。主要团队由x射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline等领域的专家组成。并与全球领先的研究机构的科学家维持紧密合作,关注前沿技术,保持产品的迭代与创新。

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