企业新闻

  • CT分辨率知多少—高分辨率微纳CT的精确度量

    在 X 射线 CT 中,空间分辨率是重要的量化参数之一,它被定义为重建图像中两点之间可以区分的最小线性距离。因此,对空间分辨率的适当评估是至关重要的,特别是对于微纳 CT 这种高精度要求的成像系统。目前有两种最常见的空间分辨率评估方法:第一种是利用分辨率测试卡评估,其包含了可进行直接视觉评估的图案结构,在工艺上可制成二维和三维结构,适用于 X 射线断层和 X 射线 CT。测试卡的优势在于操作简单,

    2023-05-31

  • 众星动态-5月主题交流会—EUV/X射线探测器交流会圆满举行

    随着 EUV/SXR/X 射线成像及谱学方法的不断发展,辐射探测器作为实验的核心部件备受研究人员的关注。众星联恒致力于为广大同步辐射实验室、研究所、高校等科研用户提供专业 EUV/SXR/X 射线产品及解决方案。日前,我司分别在北京大学及合肥国家同步辐射实验室举办了主题为“EUV/X射线探测器”的交流会。会议期间,我们介绍了国内外常见的几种辐射探测器,其中包括科研级CCD相机;sCMOS相机;X

    2023-05-31

  • 加拿大KA Imaging相衬显微CT-inCiTe™落户英国格林威治大学

    继加拿大 Ottowa 国家研究院后,加拿大 KA Imaging 公司于 2023 年 4 月 24 日在英国格林威治大学安装了 inCiTe™ 相衬显微 CT。该技术将支持 Gianluca Tozzi 教授领导的研究,旨在进一步推进实验室软组织和生物材料的快速相衬断层扫描的联合研究工作。inCiTe™ 相衬显微 CT 是第一个搭载 BrillianSe™ 探测器的商用系统,BrillianS

    2023-05-16

  • 聚焦谱学、前沿方法 - 第十三届全国XAFS会议带你一品这场学术盛宴

    2023年4月26日,由中国科学院高能物理研究所承办,中国科技大学国家同步辐射实验室、中国科学院上海高等研究院/上海光源、四川大学等单位协办的第十三届全国X射线吸收精细结构(XAFS)会议于成都圆满落幕。会议聚集了数百位专家学者,共同探讨和交流X射线吸收精细结构谱学领域的最新研究成果和进展。大会开幕式the 13th National X-ray Absorption Fine Structure

    2023-04-27

  • 软X射线吸收谱在材料科学研究中的应用

    软 X 射线是波长介于 0.1nm 到 10nm 之间的 X 射线,由于在这个能量波段的光子能够特异性地激发元素周期表上大多数元素的原子共振能级,并发射出特征荧光或俄歇电子,因此,软 X 射线吸收谱能够适用的材料研究非常广泛。利用软 X 射线吸收谱进行材料结构及其变化过程研究的一个非常重要的因素就是它可以在不破坏研究材料结构的前提条件下同时获得材料近表面和亚表面的结构信息,另一方面,由于软 X 射

    2023-04-27

  • 小尺度,察纹理!实验室软X射线显微和吸收光谱探索微观结构的奥秘

    众所周知,光学显微镜的分辨率即使达到波动光学理论的极限也只不过 200nm,对材料微观结构的认识还存在一定的局限。电子显微镜的点分辨率虽然可以达到 0.1nm,但考虑到电子的穿透深度较低,同时与结构原子相互作用可能引起结构的改变,难以实现蛋白质、DNA 等生物大分子的原位无损观测。近年来,基于水窗波段(2.3nm-4.4nm)的软 X 射线显微和光谱学技术的发展为土壤和生物细胞的原位分析提供了新的

    2023-04-17

  • 众星四月展会

    2023-04-10 Kelsey

  • 使用菲涅耳波带片作为编码孔径的全场x射线荧光成像

    Göttingen 大学的一个研究小组开发了一种产生彩色 X 射线图像的新方法。在过去,使用 X 射线荧光分析来确定样品的化学成分及其组分位置的惯用方法是将 X 射线聚焦并扫描整个样品。这既耗时又昂贵。科学家们现在已经开发出一种方法,可以通过一次曝光产生大面积的图像,而不需要对焦和扫描。该方法发表在《Optica》杂志上。Jakob Soltau et al. Full-field x-ray f

    2023-04-10

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