用于关键尺寸测量的软 X 射线散射测量的研究及商业化进展-众星联恒EUV&X射线行业洞察
为了满足纳米制造中关键尺寸的持续缩小,对纳米计量技术应具备更高且相应的分辨率的需求,研究团队提出了基于桌面级高次谐波产生(HHG)的宽带照明极紫外(EUV)散射测量方法。
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世界或许会分化,但科学的光永不熄灭
尽管全球科技格局面临诸多不确定性,未来的世界也许是割裂的,但是尖端技术的火种、及人类对于未知奇妙世界秩序的探索始终会在文明长河中奔涌不息。 X 射线与极紫外(EUV)技术作为突破物理极限的关键领域,正在推动基础科学、半导体、精密检测等行业的深刻变革。
作为深耕极紫外(EUV)及X射线核心部件领域的技术服务商和解决方案的探索者,众星联恒始终以"技术瞭望者"的视角,捕捉全球最新的行业资讯和技术前沿动态。
参考信息:
1. https://www.nature.com/articles/s41467-026-73052-w
2. https://invisix.nl/
在本系列内容中,我们将不定期为大家分享行业资讯,旨在为业界科研人员、工程师、企业家以及爱好者提供一个获取相关信息的渠道与讨论平台。我们热忱期待大家的积极讨论,踊跃分享观点。若我们的内容存在不足之处,诚望各位不吝赐教。
世界或许喧嚣,但科学的脚步永远向前。



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编辑:Sylvia

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