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    XRF多层膜分析晶体

    • 品牌Incoatec
    • 型号XRF Crystals
    • 产地德国

    公司介绍:德国Incoatec公司在基于薄膜技术的X射线光学器件方面拥有20年以上的经验。Incoatec公司的光学器件被用于全世界的X射线衍射测量、光谱测定和同步加速器射束线上。主打产品包括用于各种领域和针对微焦点光源方案的多层X射线光学器件。用新的光学器件和X射线源来升级X射线分析设备。计算机化的光学器件模拟、各类衬底的生产和薄膜表征使INCOATEC的服务更为完善,为重工业,化学,制药,半导

    1. 基本信息
    2. 技术参数
    3. 应用案例
    4. 资料/文献

    公司介绍:

    德国Incoatec公司在基于薄膜技术的X射线光学器件方面拥有20年以上的经验。Incoatec公司的光学器件被用于全世界的X射线衍射测量、光谱测定和同步加速器射束线上。主打产品包括用于各种领域和针对微焦点光源方案的多层X射线光学器件。用新的光学器件和X射线源来升级X射线分析设备。计算机化的光学器件模拟、各类衬底的生产和薄膜表征使INCOATEC的服务更为完善,为重工业,化学,制药,半导体产业,生命科学和纳米技术提供解决方案,是可靠,高效和用户友好型产品,具备德国制造的精髓。

     

    产品介绍:

    Incoatec公司为X射线荧光装置生产光学器件。该器件由多层薄膜组成,其作用是分析轻元素,XRF荧光晶体根据样品发射的荧光辐射的来进行材料分析。该多层器件所过滤的荧光辐射能可高达2.3keVIncoatec公司可为客户生产定制化的X射线荧光晶体。 


    产品特点:

    • 用于XRF、全反射X射线荧光(TXRF)和电子探针微量分析(EPMA

    • 能量范围:0.12.3keV

    • 更低的轻元素检测限

    • 更快的速度下,分析铍、硼和碳时的性能提升30%

    • 可定制特殊的镜片

     

    性能参数:

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    对硼辐射的XRF测量结果

    [1]展示了用Incoatec的分光晶体和以往某种晶体对硼辐射做XRF测量的结果。基于新型多层器件,计数率增加了50%,而计算出的检测下限(LLD)则降低了30%

     

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    1 XRF荧光晶体检测下限测量结果

    此类分光晶体可显著改善检测下限。[1]展示了我们的分光晶体在市售XRF光谱仪上的测量结果。

     


    应用介绍:

    XS-CEM 分光晶体

    XS-CEM分光晶体是Incoatec的最新成果是特别为水泥行业中的应用而设计的(见表2),其分辨率和反射率要高于PETXS-CEM的主要优点是其性能并不依赖于光谱仪的内部温度。

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