双能与相衬成像的完美交响基于自由空间传播的相衬成像

inCiTe 2.0 3D X射线显微CT是一款创新的显微CT系统，集成了多能量成像和相衬成像功能。每一次X射线曝光，inCiTe 2.0都能捕获双能量X射线图像，通过节约检查所需的时间和降低复杂度，来提高对多成分材料检测的效率。其先进的同轴相衬成像技术增强了低密度材料和细微变化的成像灵敏度，为成像应用提供了无与伦比的细节和清晰度。

基于自由空间传播的相衬成像

当传统X射线方法难以处理软组织或聚合物等低密度材料时，相衬成像方法至关重要。而为了捕获X射线的相位信息，往往需要添加专门的光学元件，以便将相移信息转换为探测器上的强度信息，例如光栅干涉仪。一个更直接的实验方式是通过X射线自由空间传播来产生相位衬度，可以使X射线波前的相位变化（经过样品）在探测器上以强度波动的形式可见，如下图。虽然不需要额外的光学器件，但为了达到好的成像效果，需要足够大的横向空间相干长度（即光源的光斑尺寸要足够小）以及高分辨率探测器。

inCiTe 2.0系统使用KA Imaing 自有专利的非晶硒（a-Se）X射线相机BrillianSe™。

BrillianSe™ 是一种混合型 a-Se/CMOS 探测器，它使用具有高固有空间分辨率的 a-Se 光电导体将 X 射线光子直接转换为电荷。然后再通过低噪声 CMOS 有源像素传感器 (APS) 直接读取电子信号。这样的话，无需像间接闪烁体方法那样先将 X 射线光子转换为可见光，亦无需减薄转换层以减小光学散射等效应。BrillianSe™提供了基于8μm像素的高分辨率，又保证了能量高至100keV时的高探测量子效率（DQE）。这些特点使该探测器既可高效的用于高能低通量吸收成像，又可在低密度材料成像时通过同轴相衬增强机制来提升灵敏度。

多能量X射线成像

利用世界上首款便携式的单曝光双能X射线探测器 Reveal™ 35C，得益于KA Imaging 独有的双能专利技术 SpectralDR™，inCiTe 2.0系统可以在一次X射线曝光后，同时提供 DR、高密度和低密度三幅图像。

Reveal™ 35C 具有独特的三层堆叠设计，便于集成，量子效率高。与其他双能解决方案不同，Reveal™35C只需要一次 X 射线曝光，即使用与常规X 光相同的辐射剂量，就能消除运动伪影，实现不同密度材料的区分。