硅漂移X射线光谱仪-用于实验室、科学研究（XRS）
适用于工业和实验室的X射线荧光分析等需要X射线能谱测量的应用
产品介绍
XRS是一套完备的X射线能谱探测系统，由于探测器探头、供电电源及DDP组成，非常适用于工业和实验室的X射线荧光分析等需要X射线能谱测量的应用。单独预先调整的系统参数与正确选择 SDD 模块类型相结合，可在特定应用领域实现最佳性能和可靠性。
特征优势
1与数字脉冲处理器 (DPP) 或模拟整形器一起使用的高分辨率检测器系统
2XRF 窗口选项开放式模块 (OM)、超薄窗口 (UTW)、铍或平面薄窗口 (PTW)，用于检测低至Li的轻元素
3真空密封探测器鼻子，可轻松适应真空室
4第二个 Peltier 用于在较高温度下改善散热
5用于完全可控 SDD 模块条件的压力和温度监控以及用于延长模块真空寿命的吸气剂重新激活选项
规格参数
| 有效探测面积 | 10-30 mm2 |
| 能量分辨率 | 125-129 eV FWHM @Mn-Ka，-30° |
| 真空密封性 | <0.01 mbar |
| 窗口材料 | BE，PTW（低能应用） |
XRS-The XRF Detector System参数
XRS X射线光谱仪不同类型平面薄窗口透过率
XRS X射线光谱仪探测头功能结构示意图
不同芯片制冷问题下能量分辨率
使用PTW窗口的、低至C的轻元素探测器性能
通用参数
有效探测面积
10-30 mm2
能量分辨率
125-129 eV FWHM @Mn-Ka，-30°
真空密封性
<0.01 mbar
窗口材料
BE，PTW（低能应用）
典型应用
- X射线荧光分析
- X射线能谱测量
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