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高分辨Von Hamos发射谱仪在Desy P64 先进XAFS线站搭建完成

2019-12-24 11:49:09 105

高分辨Von Hamos发射谱仪在Desy P64

先进XAFS线站搭建完成


目前,在德国Desy P64先进X射线吸收谱(Advanced XAFS)线站搭建完成,已经向研究人员开放。该谱仪隶属于帕德博恩大学(the University of Paderborn),请广大用户在提交研究计划之前,联系Matthias Bauer博士或Aleksandr Kalinko博士。

1.jpg

High resolution von Hamos-type spectrometer at P64

谱仪技术参数介绍-可用晶体



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Si(111) - 8 crystals

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 Si(110) - 8 crystals

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 Si(311) - 6 crystals

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Si(400) - 6 crystals

*

Si(331) - 6 crystals

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Si(422) - 6 crystals

晶体尺寸:

100mm x 40mm

晶体类型:

柱面弯晶

曲率半径

500mm

其它:如上述晶体无法满足实验需求,也欢迎客户携带自己的晶体进行实验。

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X射线探测器


X-Spectrum公司- Lambda 750K

Sensor材料:

Si-300µm

像素尺寸

55µm x 55µm 

帧率可达:

2000 frames per second in 12 bit mode

计数器深度:

12 bit (连续读写模式,无读出时间), 24 bit (1ms读出时间)

计数率:   

高达2.5x10E8 cps/mm2 (10%线性偏离的情况下)

噪声:

无(5keV阈值设定下)

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