X射线源

织构分析

2020-02-21 10:13:24 14
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使用IµS进行织构测量


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        Cu-Kα辐射IµS集成与 Bruker AXS GADDS系统,该系统还包含Eulerian cradle与VÅNTEC2000面探测器,以用于YBCO基体中的BaHfO3纳米颗粒的织构测量。在约50分钟内(含所有机械移动与读出时间),此系统可记录gamma范围至65°的极相图。

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