Incoatec-微焦点X射线源-Ius

Incoatec射线源用于掠入射广角X射线散射

2022-06-17 17:02:36

Incoatec射线源用于掠入射广角X射线散射

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斯洛伐克科学院物理研究所的研究员Karol Vegso博士和其学生Ashin Shaji博士搭建了首台实验室桌面掠入射广角X射线散射(GIWAXS)系统。该系统使用了德国Incoatec先进的Mo靶IuS x射线微焦源（左侧）E=17.45 keV以及光子计数型、像素化X射线探测器，中间是CVD腔体。

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通过该系统可以观察到MoO3硫化过程中，MoO3到MoO2再到MoS2的转变过程。通过X射线衍射，化学气相沉积(CVD)室内的化学反应。

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同时Karol Vegso还搭建一套桌面式GIWAXS系统用于测量数层过渡金属硫化物(TMD)的薄层测量，如二硫化钼(MoS2)或铂二硒化物(PtSe2)等非常有应用前景的半导体薄膜。

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在此套装置中Karol Vegso博士同样使用了德国Incoatec先进的Mo靶IuS x射线微焦源（左侧）E=17.45 keV以及光子计数型、像素化X射线探测器，样品台是在PI的六角架上放置了旋转台，使用者可以从不同phi角测量GIWAXS谱图或进行phi扫描。北京众星联恒科技有限公司

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the example of the GIWAXS patternfor PtSe2 grown on the c-plane sapphire averaged from 0° to 360°

文章链接：

Brunova, Alica, et al. "Structural and Trap‐State Density Enhancement in Flash Infrared Annealed Perovskite Layers." Advanced Materials Interfaces 8.14 (2021): 2100355.

Bodik, Michal, et al. "Friction control by engineering the crystallographic orientation of the lubricating few-layer MoS2 films." Applied Surface Science 540 (2021): 148328.