hiXAS桌面X射线吸收精细结构谱仪5-12KeV / 台式XAFS
hiXAS提供了完整的基于实验室拓展X射线精细结构吸收谱(EXAFS)和X射线近边结构吸收谱（XANES）的解决方案。X射线光管光源和光谱仪可以覆盖的能量范围为5-12KeV。
公司介绍
德国HP Spectroscopy公司成立于2012年，致力于为全球科研及工业领域的客户定制最佳解决方案，是科学仪器的全球供应商和领先开发商。产品线包括XAS系统，XUV/VUV/X-ray光谱仪，beamline产品等。主要团队由x射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline等领域的专家组成。并与全球领先的研究机构的科学家维持紧密合作，关注前沿技术，保持产品的迭代与创新。
产品简介
HiXAS提供了完整的基于实验室拓展X射线精细结构吸收谱(EXAFS)和X射线近边结构吸收谱（XANES）的解决方案。在较小的占地面积内，它集成了X射线光管光源、高分辨光谱仪、光子技术像素化X射线探测器，以及用于仪器控制和数据的分析的控制软件。
由于hiXAS的光谱质量于同步辐射测量的结果相当，使得冗长的同步辐射测量机时申请和等待变得不再有必要。
X射线光管光源和光谱仪可以覆盖的能量范围为5-12KeV，因此包括了3d过度金属的K吸收边。专门优化的HAPG Von Hamos光谱仪结构可以获得极高信噪比的光谱。因此，可分析的样品浓度可以低至数个质量百分比。同时光谱仪在覆盖的吸收边范围内，保持很高效率和恒定的高分辨率（E/ΔE = 4000）。我们还可以根据您的各种应用需要，提供定制化的hiXAS系统。
hiXAS可用于EXAFS和XANES测量的元素范围。HiXAS可以在几分钟的时间内测量出分析物浓度仅为几个重量百分比的稀释样品。
测量结果
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hiXAS可以实现高质量的数据采集，能量分辨率与同步辐射相当 |
单原子催化剂Zn k边XANES光谱。在分析物浓度低至1wt%的情况下，获得了与高质量的XANES光谱。hiXAS可以测量稀释的样品，提高对氧化状态的识别能力 |
hiXAS对元素具有较高的灵敏性，能够通过吸收边能量位置实现对元素电子结构及价态分析。 |
hiXAS可以测量低浓度样品，以上为Co样品XANES光谱。 |
应用案例
Cu箔样品X射线吸收测量，采集时间:3分钟含样品，1.5分钟不含样品 C. Schlesiger et al, Recent progress in the performance of HAPG based laboratory EXAFS and XANES spectrometers, J. Anal. At. Spectrom. 35, 2298 (2020) | |
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(b) 使用实验室台式XAFS 谱仪 hiXAS测得的 Co，Co3O4 及macro-TpBpy-Co 的 Co K 边吸收谱图；(c-d) 相应的通过傅里叶变化得到的 R 空间变换谱图。 |
主要参数
核心元件 | X射线光管光源 von Hamos HAPG 光谱仪 光子计数，像素化X射线探测器 | |
能量范围 | 5-12keV | |
样品浓度 | 低至 数个质量百分比 | |
样品安装 | 多样品转轮 | |
占地尺寸 | 2.0m x 1.0m (根据配置调整) | |
软件套件 | 集成系统控制，各种光谱校准和分析功能 | |
EXAFS 模式 | XANES 模式 | |
光谱分辨能力 | 1800* | 4000* |
（*整个能量范围内不变） | ||
能量带宽 | 1000eV | 300eV |
采集时间 | 3分** | 8分钟** |
（**归一化分析物浓度） | ||
主要应用
化学形态分析和浓度比
复合物研究
催化剂分析
短程有序和键长确定
Datasheet
hiXAS-非扫描式桌面X射线吸收精细结构谱仪_datasheet_20221122.pdf
非扫描台式X射线吸收精细结构谱仪，加速非晶材料结构及其演化过程探索的步伐
Application Note
Optimizing catalysts for synthesis gas conversion with lab-based XANES ApplicationNote.pdf 英文下载
Advancing electrolysis catalysts with lab-based XANES ApplicationNote.pdf 英文下载